基于LVF的纺织品光学性能测试方法研究

提出了一种以线性渐变滤波片(LVF)作为分光器件的纺织品光学性能测试新方法。该方法采用多通道自扫描光电二极管阵列(SSPA)作为光电探测器,特点是一次完成对纺织品在全波段对光的透射和反射性能的综合评价。设计了实现该方法的测试系统,进行了纺织品实测实验,试验结果验证了该方法的实用性。