基于0.18um CMOS工艺线性调整器设计

本设计采用0.18um CMOS工艺实现液晶显示器(LCD)控制芯片中的基准源电路,设计增加一级线性调整器电路,将带隙基准电路产生的1.2V左右的带隙电压调整为与数字核心电路所要求的电源电压1.8V的输出电压。通过元器件模型参数的电路仿真,性能指标基本达到要求。

低压差线性调整器通用测试平台的构建

随着低压差线性调整器(LDO)芯片在航天领域的应用越来越广泛,对测试验证环节的要求也越来越高,因此测试开发人员也面临着更大的挑战,因此如何构建高效准确的LDO通用测试平台是研究的重点和难点。基于对低压差线性调整器的电路结构、工作原理、关键测试指标的详尽了解,结合航天型号用LDO芯片的指标特点,对现有的LDO测试方法提出了更为全面精准的测试软硬件解决方案。该LDO通用测试平台具备更高的测试覆盖率和工作效率,能够完成不同类型LDO的性能测试。

低压差线性电压调整器噪声电压测试方法

低压差线性电压调整器在便携应用中除需要实现电压转换功能外,还必须满足专用电路的噪声要求。噪声电压作为低压差线性电压调整器的关键指标之一,它限制电路能够处理的最小信号电平。为适应新型低压差线性电压调整器的低噪声测量需求,该文提出采用电池供电与实时信号分析仪相结合的噪声电压测试方法,该方法通过降低低压差线性电压调整器输入噪声对输出噪声的影响,具有测量精度较高、测试灵活、平台搭建简单等特点。文中对比分析采用直流电源供电与采用电池供电的噪声电压测试方法,实验结果表明:采用电池供电的噪声电压测试方法可以满足10μV量级的噪声电压测试需求,达到对低压差线性电压调整器噪声电压进行准确考核的目的。

低压差线性电压调整器电源纹波抑制比测试方法

低压差线性电压调整器应用广泛,电源纹波抑制比是反映其性能指标的关键参数之一。为解决传统电源纹波抑制比测试方法测量频率范围较小、测试效率低、难以满足高电源纹波抑制比测试等不足,提出基于功率分配器和低频网络分析仪相结合的电源纹波抑制比测试方法,并采用典型低压差线性电压调整器对基于功率分配器和基于电感电容总和节点法的两种测试方法进行测试验证。实验结果表明:基于功率分配器的电源纹波抑制比测试方法最低测试频率可达30 Hz,可满足70 d B以上电源纹波抑制比的测试需求,具有频率测量范围更宽、测试效率高等特点。

一种基于2μm互补双极CMOS工艺的低压降调整器

采用先进的2μm互补双极CMOS工艺,研制出一种高精度双路低压差线性调整器(LDO)。该电路具有使能控制、误差输出、过温保护、短路保护等功能,只需外接一个0.47μF的瓷介电容,即可实现稳定工作;简化了外围设计,降低了成本,提高了应用的可靠性。

7.5V高精度BiCMOS电压调整器的设计

提出一种应用于有源功率因数校正控制芯片的7．5V高精度线性电压调整器的设计。由于采用了多种改进措施，包括片上微调电阻网络的应用，该调整器具有良好的电压调整特性和很高的温度稳定性。此外，调整器还集成了过流保护功能。该电路采用1．5μm BiCMOS工艺设计实现，面积为0．42min×0．63mm。测试结果表明，在12V供电电压下，当负载电流在0～20mA范围内变化时，其负载调整率达23％／A。片上微调电阻的应用使其可获得很低的温度系数。

一种超低压差线性稳压器的设计

介绍了一种最大输出电流为300mA的超低压差电压调整器。通过优化误差放大器和反馈电阻网络,以及选择合适的功率管尺寸等措施,有效降低了电压调整器的压差,提高了电压调整器的性能。基于BCD350工艺,对电路进行仿真。结果表明,当输出电流为100mA时,该LDO的压差仅为27mV。

基于LDO限流技术的辐射闩锁防护技术

讨论了CMOS器件受辐射感生的闩锁与电气感生的闩锁的异同点,研究并提出了一种基于限流型低压降线性调整器的闩锁防护方法,给出了卫星用线性调整器电路的地面总剂量摸底试验数据及空间飞行试验验证结果和解决星载计算机的闩锁防护与恢复问题的有效方法.