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低剂量SIMOX圆片研究 被引量:3
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作者 陈猛 陈静 +5 位作者 郑望 李林 牟海川 林梓鑫 俞跃辉 王曦 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第8期1019-1024,共6页
用二次离子质谱、剖面透射电镜、高分辨电镜以及化学增强腐蚀法表征了低剂量 SIMOX圆片的结构特征 .结果显示 ,选择恰当的剂量能量窗口 ,低剂量 SIMOX圆片表层 Si单晶质量好、线缺陷密度低埋层厚度均匀、埋层硅岛密度低且硅 /二氧化硅... 用二次离子质谱、剖面透射电镜、高分辨电镜以及化学增强腐蚀法表征了低剂量 SIMOX圆片的结构特征 .结果显示 ,选择恰当的剂量能量窗口 ,低剂量 SIMOX圆片表层 Si单晶质量好、线缺陷密度低埋层厚度均匀、埋层硅岛密度低且硅 /二氧化硅界面陡峭 .这些研究表明 ,低剂量 SIMOX圆片制备是很有前途的 展开更多
关键词 低剂量 线缺陷密度 SIMOX SOI 集成电路
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合金钢稀土渗氮层的硬度增强机理 被引量:1
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作者 谷吉海 吕军成 +4 位作者 刘成友 张安宁 林晶 张国良 王新亮 《金属热处理》 CAS CSCD 北大核心 2016年第5期19-24,共6页
为研究合金钢稀土渗氮层硬度增强机理,采用扫描电镜、透射电镜和显微硬度计等测试方法,对3种常用合金钢的常规渗氮和稀土渗氮的显微组织和渗层硬度进行分析。结果表明:稀土原子的渗入导致钢表层晶粒缺陷密度增加,在缺陷处生成气团,使晶... 为研究合金钢稀土渗氮层硬度增强机理,采用扫描电镜、透射电镜和显微硬度计等测试方法,对3种常用合金钢的常规渗氮和稀土渗氮的显微组织和渗层硬度进行分析。结果表明:稀土原子的渗入导致钢表层晶粒缺陷密度增加,在缺陷处生成气团,使晶粒内氮原子偏聚区增多,晶粒亚结构细化,导致硬度提高;同时稀土原子沿晶界渗入和扩散,会诱导晶界迁移,使晶界表面突壁和扭折密度发生变化,可以使常规渗氮中容易析出的网状ε氮化物减少,降低了沿晶界断裂的可能性,强化了晶界。这些作用的叠加,提高了渗氮层的硬度和材料的力学性能。 展开更多
关键词 合金钢 稀土渗氮 渗层硬度 线缺陷密度增殖 亚结构细化
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