中子辐照导致线阵电荷耦合器件电荷转移效率退化实验研究

利用TRIGA型脉冲反应堆提供的快中子,对线阵电荷耦合器件进行中子辐照实验研究。研究结果表明:在1012-1013cm-2中子注量范围内,该器件的电荷转移效率(CTE)随辐照中子注量的增加而线性下降;电荷转移效率的下降与电荷包在沟道中的转移时间及转移电荷包的电量有关。

一种二相线阵电荷耦合器件的数据采集器设计

二相线阵电荷耦合元件是将奇、偶像元信号并行输出,在数据率提高的同时却导致信号处理变得更为复杂。基于此,以TCD1703C型二相线阵电荷耦合元件为例,提出了一种通过现场可编辑门阵列产生控制时序,并利用多通道数据处理芯片进行后续信号处理的方案。试验结果表明:该方案结构简单,性能稳定,功耗低,能够达到信号处理要求,为后续应用于微型血流变分析系统奠定了基础。

线阵电荷耦合器件在光谱分析仪设计中的应用

对线阵电荷耦合器件在光谱分析仪设计中应用的关键问题做了探讨,主要包括硬件设计、波长拟合方法、非线性校正方法和其他相关事项。

基于线阵电荷耦合器件的数字差分式肌张力传感器

基于线阵电荷耦合器件(charge coupled device,CCD)设计了一种数字差分式肌张力传感器,以悬臂梁为弹性元件,线阵CCD为检测元件,将张力变化转化为激光光斑在CCD感光窗口上的位置变化,实现了肌张力的数字差分式测量。采用两组线阵CCD对称式设计,使传感器具有差动式测量的优点;位移变化是以线阵CCD像元的数量来体现,使传感器具有数字化测量的特点。结果证明,测量方法具有数字差分的特征,显著降低了传感器的非线性误差和迟滞,适用于微张力的数字化测量。

面阵CCD电荷耦合器件的特点及原理分析

较为详细地分析了帧转移型、行间转移型和帧—行转移型面阵CCD电荷耦合器件的光电转换原理、电荷转移方式及其优缺点.

基于行过扫数据降低大面阵CCD图像噪声算法研究

针对全帧转移大面阵电荷耦合器件(CCD)多帧图像数据随时间漂移的现象和测试电路引入的噪声,导致无法准确评估CCD器件的参数,文章提出一种基于行过扫数据校正算法。行有效像元数据与对应行垂直过扫数据同时输出,通过有效像元数据减去垂直过扫数据均值,对图像数据漂移的现象进行抑制。测试电路中模拟模块与数字模块同时作用于单行有效像元数据与垂直过扫数据,通过有效像元数据减去垂直过扫数据均值,消除测试电路引入的噪声。实验结果表明,经过该算法校正后的器件读出噪声减小了20%,暗场差值图像中超过15e^(-)和25e^(-)的比例减小了25%。该算法适用于大面阵CCD器件,可校正测试系统引入的测试误差,提高全帧转移大面阵CCD器件测试效率。

应用高清晰度CCD（电荷耦合器件）技术实现纱线条干质量的精确检测及其数据处理与修正

0引言 众所周知，纱线的质量检测对于纱线的生产乃至整个纺织产业都是至关重要的。纱线质量检验的结果一方面为纱线生产企业提供生产和工艺调控的可靠依据，另一方面为使用单位和贸易企业提供可靠的质量信息，以实行优质优价、按质论价。防止伪劣、残次产品流入市场，维护纺织品生产企业、贸易企业和消费者三个方面的利益。

线阵CCD辅助探测天幕阵列弹丸位置解析模型

针对典型光电测试系统存在的探测光幕结构复杂,测量精度较低,靶场布设困难的问题,提出了基于探测天幕和线阵电荷耦合器件(CCD)结合测量弹丸位置的方法;根据弹丸穿过探测天幕阵列和线阵CCD的时间和图像信息,结合探测天幕阵列和线阵CCD的空间几何关系,建立了弹丸位置的计算模型;按照误差传递理论,建立弹丸位置参数的全微分误差模型,仿真分析得到弹丸位置参数的误差分布在3.5 mm之内;通过弹丸位置测试试验,与纸板靶法测量弹丸坐标进行对比,误差均小于5 mm,验证了提出的测量系统的准确性和可行性。

电荷耦合器件(CCD)应用概述

CCD实质是MOS电容器的新应用,目前国外发展很快,已趋于成熟,应用领域不断扩展。本文主要叙述CCD基本原理及应用概况。

电荷耦合器件(CCD)

介绍 CCD器件的工作原理。

线阵电荷耦合器技术在自动测长系统中的应用

介绍用线阵电荷耦合器件 (CCD)技术设计的型材在线实时测量系统。采用粗测和精测相结合的方法 ,解决了较大长度范围内精确测量问题。详细介绍动态在线非接触式测控系统的基本工作原理及软硬件组成。实测结果表明其测量精度高、效果好 ,能满足快速流水线的现场检测。

线阵CCD摄像器件TCD142D及其应用

文章介绍了线阵CCD器件及其驱动电路的工作原理 ,给出了TCD142D的各技术参数和性能指标 。

电荷耦合器件(CCD)在单缝衍射光强分布测量中的应用

通过CCD传感技术把光学量——单缝衍射光强转化为电学模拟量,继而进行模数转换,最后用单片机系统进行数据处理,降低光学量测量的工作强度,获得较高的实验精度,取得较好的实验效果。

面阵电荷耦合器件错位成像的建模与仿真

为了定量研究面阵电荷耦合器件(CCD)错位成像技术图像质量的提高以及CCD像元填充因子对图像质量的影响,建立了仿真不同像元填充因子的面阵CCD错位成像的数学模型。以Matlab为平台,不考虑噪声的干扰,对ISO12233标准分辨率测试卡子图像进行了仿真,结果表明,CCD像元填充因子为100%时,与普通成像模式相比,对角错位、四点错位成像模式图像的灰度平均梯度分别提高了2.9970、3.4136,拉普拉斯能量分别提高了0.5676、0.7478,且CCD像元填充因子为其他值时,相较于普通成像模式,对角错位、四点错位成像模式图像的GMG和EOL均得到提高;采用四点错位成像模式时,与填充因子为100%的面阵CCD相比,填充因子为69%、44%、25%的面阵CCD四点错位模式图像的灰度平均梯度分别提高了1.433 0、3.337 3、5.153 2,拉普拉斯能量分别提高了0.638 0、1.704 4、3.196 8,且采用其他成像模式时,填充因子为100%、69%、44%、25%的图像的GMG和EOL均不断提高。研究表明,面阵CCD错位成像技术能够提高图像质量,且四点错位成像模式图像质量优于对角错位成像模式;在满足信噪比指标要求的前提下,对于面阵CCD同一成像模式,像元填充因子越小,图像质量越高。

电荷耦合器件CCD固体摄像机的基本工作原理

本文介绍了电荷耦合CCD固体摄像机的势阱、电荷的转移及几种基本类型。

用可编程逻辑器件开发软件设计线阵CCD驱动器

本文简述了可编程逻辑器件的性能特点，介绍了用可编程逻辑器件设计星载线阵ＣＣＤ相机ＣＣＤ驱动器的方法，减少了驱动器的体积，降低了功耗，实现了驱动器的更新换代。

基于ispLSI器件的线阵CCD时序发生器设计

本文介绍了线阵CCD的时序逻辑,分析了时序发生器的组成原理及工作过程;并详细论述了基于ispLSI1016、利用Synario对CCD时序发生器进行的设计、编译,且进行了功能仿真。

面阵电荷耦合器件图像的实时处理

本文介绍了对面阵电荷耦合器件图像进行高速采集并从中获取目标信号的硬件设计方法和实验结果 ;给出了目标识别及定位的算法流程图 ,只要连续两行的目标信号 ,从而使存储空间大大减少 。

线阵 CCD 器件应用于星载相机时应注意的问题

ＣＣＤ器件的可靠度及耐辐照能力关系到ＣＣＤ相机的工作寿命；ＣＣＤ器件的驱动方式及输出直流电平的抑制方法关系到是否充分发挥了ＣＣＤ器件的潜力；静电保护关系到ＣＣＤ器件自身的安全。利用加速寿命试验中获得的数据，通过分析，预估出ＣＣＤ器件的可靠度；分析了高能辐射对ＣＣＤ器件的影响；对模拟及数字驱动进行了分析并指出注意事项；比较了两种常见的抑制ＣＣＤ输出直流电平的方法，提出了应用过程中防静电措施。

基于电荷耦合元件线阵的接触线磨损测量技术与应用

接触线磨损量的测量是改善弓网关系、确保列车正常运行的关键。针对相关技术的现状及发展,对基于DSP(数字信号处理器)和CCD(电荷耦合元件)线阵的非接触测量技术进行了研究。主要设计了利用一片DSP芯片完成对CCD的驱动和数据采集,阐述了芯片时序的产生和配合问题。然后通过图像处理技术对采集到的接触线磨损图像进行处理,从而计算出接触线的磨损量。根据工程测量的实际需要,设计了一套基于线阵CCD和DSP的接触线磨损量监测装置。提出采用线阵CCD和DSP及平行光构成的测量系统,测量精度高、响应时间短,适用于恶劣的工况环境。