组合数字集成电路测试生成技术研究

介绍了数字集成电路测试的基本概念,包括测试的分类,以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念;概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理;着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法,包括异或法、步尔差分法、路径敏化法、D算法、PODEM算法和FAN算法等,这些算法是测试图形生成的基本方法,在具体应用中可灵活选用。