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基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限
1
作者
范大茵
《经济数学》
1996年第2期109-112,共4页
设A为由K个相互独立的成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性pi,pi未知,i=1,2,…,K.设对第i个元件,对于给定的mi,有ni个巴斯卡试验数据:Xi1,Xi2,…,Xini,其中Xij表示对第i个元件进...
设A为由K个相互独立的成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性pi,pi未知,i=1,2,…,K.设对第i个元件,对于给定的mi,有ni个巴斯卡试验数据:Xi1,Xi2,…,Xini,其中Xij表示对第i个元件进行试验,试验进行到mi次成功时所需要的试验次数j=1,2,…,ni,i=1,2,…,K.记Ti=Xi1+Xi2+…+Xini,i=1,2,…,k.本文研究基于统计量(T1,T2,…,Tk)求串联系统A的可靠性经典精确最优置信下限.
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关键词
成败型元件
串联系统
可靠性
经典精确最优置信限
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职称材料
题名
基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限
1
作者
范大茵
机构
浙江大学应用数学系
出处
《经济数学》
1996年第2期109-112,共4页
基金
浙江省自然科学基金
文摘
设A为由K个相互独立的成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性pi,pi未知,i=1,2,…,K.设对第i个元件,对于给定的mi,有ni个巴斯卡试验数据:Xi1,Xi2,…,Xini,其中Xij表示对第i个元件进行试验,试验进行到mi次成功时所需要的试验次数j=1,2,…,ni,i=1,2,…,K.记Ti=Xi1+Xi2+…+Xini,i=1,2,…,k.本文研究基于统计量(T1,T2,…,Tk)求串联系统A的可靠性经典精确最优置信下限.
关键词
成败型元件
串联系统
可靠性
经典精确最优置信限
Keywords
Pass-fail component, series system, reliability, classical exact lower confidence limit
分类号
O21 [理学—概率论与数理统计]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限
范大茵
《经济数学》
1996
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