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200V高压大电流VDMOS的研制
被引量:
2
1
作者
胡佳贤
韩雁
+2 位作者
张世峰
张斌
宋波
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第1期85-89,共5页
介绍了自主研制的200 V/40 A VDMOS晶体管的设计优化过程及研制结果。该器件采用JFET注入和浅P-body方法降低导通电阻,提高电流密度,采用优化的N掺杂硅外延材料优化导通电阻和击穿电压。测试结果表明击穿电压高于215 V,特征导通电阻1.2...
介绍了自主研制的200 V/40 A VDMOS晶体管的设计优化过程及研制结果。该器件采用JFET注入和浅P-body方法降低导通电阻,提高电流密度,采用优化的N掺杂硅外延材料优化导通电阻和击穿电压。测试结果表明击穿电压高于215 V,特征导通电阻1.2Ω.mm2,导通电流可达40 A;同时设计了ESD防护,HBM值7.5 kV;芯片总面积小于31.25 mm2,可采用TO220封装。
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关键词
垂直双扩散金属氧化物
场效应
晶体管
大电流
导通电阻
结型场效应区注入
静电防护
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职称材料
题名
200V高压大电流VDMOS的研制
被引量:
2
1
作者
胡佳贤
韩雁
张世峰
张斌
宋波
机构
浙江大学微电子与光电子研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2011年第1期85-89,共5页
基金
广东省省级财政支持技术项目(JGZB2008004)
文摘
介绍了自主研制的200 V/40 A VDMOS晶体管的设计优化过程及研制结果。该器件采用JFET注入和浅P-body方法降低导通电阻,提高电流密度,采用优化的N掺杂硅外延材料优化导通电阻和击穿电压。测试结果表明击穿电压高于215 V,特征导通电阻1.2Ω.mm2,导通电流可达40 A;同时设计了ESD防护,HBM值7.5 kV;芯片总面积小于31.25 mm2,可采用TO220封装。
关键词
垂直双扩散金属氧化物
场效应
晶体管
大电流
导通电阻
结型场效应区注入
静电防护
Keywords
VDMOS
large current
on-resistance
JFET impantation
ESD protection
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
200V高压大电流VDMOS的研制
胡佳贤
韩雁
张世峰
张斌
宋波
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
2011
2
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职称材料
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