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电子膨胀阀线圈失效研究
1
作者
胡煜刚
胡盛文
+1 位作者
韦贝贝
于磊
《家电科技》
2020年第4期117-119,共3页
为研究电子膨胀阀线圈在低温工况下失效的原因,剖析了电子膨胀阀线圈注塑工艺、绕线结构、环境工况及其绝缘层壁厚等之间的关系,发现线圈绝缘层因热胀冷缩引起绝缘层开裂,冷凝水进入线圈细微的裂缝,使线圈的绝缘性能降低,导致线圈失效。
关键词
电子膨胀阀线圈
低温失效
绝缘层壁厚
绕线变形
线圈注塑
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职称材料
题名
电子膨胀阀线圈失效研究
1
作者
胡煜刚
胡盛文
韦贝贝
于磊
机构
广东美的制冷设备有限公司
出处
《家电科技》
2020年第4期117-119,共3页
文摘
为研究电子膨胀阀线圈在低温工况下失效的原因,剖析了电子膨胀阀线圈注塑工艺、绕线结构、环境工况及其绝缘层壁厚等之间的关系,发现线圈绝缘层因热胀冷缩引起绝缘层开裂,冷凝水进入线圈细微的裂缝,使线圈的绝缘性能降低,导致线圈失效。
关键词
电子膨胀阀线圈
低温失效
绝缘层壁厚
绕线变形
线圈注塑
Keywords
Electronic expansion valve coil
Low temperature failure
Insulation layer wall thickness
Winding deformation
Coil injection
分类号
TB652 [一般工业技术—制冷工程]
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作者
出处
发文年
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1
电子膨胀阀线圈失效研究
胡煜刚
胡盛文
韦贝贝
于磊
《家电科技》
2020
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