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CMOS器件自锁现象的探讨
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作者 郏东耀 杨雷 吕英杰 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期72-74,共3页
结合最近开发的绝缘油耐压测试仪中出现的CMOS自锁现象,系统分析了在电路设计中尤其是强电磁场等特殊环境下普遍存在的CMOS器件自锁现象产生的机理、触发条件和原因,并提出了抑制该类干扰的各种措施。
关键词 CMOS器件 自锁现象 SCR 双结型寄生晶闸管 绝缘油压测试仪 电子设计
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