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辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复
被引量:
3
1
作者
顾伯华
周立业
安继刚
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期17-19,共3页
对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析 ,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数。利用维纳滤波对模糊图像进行恢复。对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法。
关键词
辐射成像无损检测系统
模糊图像
冲击响应函数
图像恢复
维纳滤波功率谱
辐射源
几何尺寸
下载PDF
职称材料
题名
辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复
被引量:
3
1
作者
顾伯华
周立业
安继刚
机构
清华大学核能技术设计研究院
出处
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002年第1期17-19,共3页
基金
国家"九五"攻关项目
文摘
对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析 ,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数。利用维纳滤波对模糊图像进行恢复。对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法。
关键词
辐射成像无损检测系统
模糊图像
冲击响应函数
图像恢复
维纳滤波功率谱
辐射源
几何尺寸
Keywords
digital radiography
non-destructive testing
image restoration
power spectrum
Wiener filter
power spectrum
分类号
TH878.1 [机械工程—精密仪器及机械]
TL99 [核科学技术—核技术及应用]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复
顾伯华
周立业
安继刚
《核电子学与探测技术》
CAS
CSCD
北大核心
2002
3
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职称材料
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