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辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复 被引量:3
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作者 顾伯华 周立业 安继刚 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期17-19,共3页
对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析 ,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数。利用维纳滤波对模糊图像进行恢复。对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法。
关键词 辐射成像无损检测系统 模糊图像 冲击响应函数 图像恢复 维纳滤波功率谱 辐射源 几何尺寸
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