期刊文献+
共找到5篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
航天器C语言软件常见编程错误分析及检测方法研究 被引量:4
1
作者 侯成杰 《空间控制技术与应用》 2013年第6期53-57,共5页
基于软件第三方评测发现的问题,梳理并详细分析了在航天器C语言软件中6种常见编程错误.针对其中的软件安全漏洞提出了使用代码分析技术的检测方法,针对编程语言使用错误提出了通过制定编程规则并使用代码分析方法进行检测的解决方法.采... 基于软件第三方评测发现的问题,梳理并详细分析了在航天器C语言软件中6种常见编程错误.针对其中的软件安全漏洞提出了使用代码分析技术的检测方法,针对编程语言使用错误提出了通过制定编程规则并使用代码分析方法进行检测的解决方法.采用上述方法可以有效检测出上述6种常见编程错误,并可以用于检测软件的其他严重错误. 展开更多
关键词 航天器软件 C语言 编程错误 软件安全漏洞 代码分析
下载PDF
Visual J++ 1.1编程错误的分析
2
作者 武彦军 孙炜 《电子与电脑》 1999年第1期126-128,共3页
Visual J++ 1.1是Microsoft开发的、基于Java的集成开发环境,是可用于开发、编译及调试Java applet、JavaScript和ActiveⅩ控件的集成程序。但是,由于Java严格的语法规则,尤其对于初学者来说,在编写Java applet、JavaScript和ActiveⅩ... Visual J++ 1.1是Microsoft开发的、基于Java的集成开发环境,是可用于开发、编译及调试Java applet、JavaScript和ActiveⅩ控件的集成程序。但是,由于Java严格的语法规则,尤其对于初学者来说,在编写Java applet、JavaScript和ActiveⅩ控件的集成程序时,往往容易出现一些错误,并且在调试时常常感到不知所措。为了使初学者少走弯路,更轻松地使用Visual J++开发程序,笔者特将工作中遇到的一个错误的程序提供给读者,以共同探讨编程错误的分析技巧。错误程序见程序1(为便于分析说明,特给程序标上了行号)。 展开更多
关键词 程序设计 VISUAL J++1.1 编程错误 分析
下载PDF
C++常见编程错误教学系统的开发与应用
3
作者 廖胜辉 《科技创新导报》 2013年第34期143-143,共1页
在C++学习及编程过程中,会遇到很多问题,特别是对于一些初学者而言,这些问题阻碍了学习的深入。该文的目的是开发一个C++常见编程错误教学系统,采用可扩展的方式列举C++编程常见错误,提示内嵌编译器提供的错误信息,引导学生调试、修改错... 在C++学习及编程过程中,会遇到很多问题,特别是对于一些初学者而言,这些问题阻碍了学习的深入。该文的目的是开发一个C++常见编程错误教学系统,采用可扩展的方式列举C++编程常见错误,提示内嵌编译器提供的错误信息,引导学生调试、修改错误,并分析和提高对程序错误来源的认识。 展开更多
关键词 C++ 编程错误 程序调试 辅助教学
下载PDF
基于大数据的学生编程数据挖掘与分析
4
作者 张倩 《信息系统工程》 2023年第10期83-86,共4页
在线教育迅速普及,现在已成为一个重要的学习方式,在线编程教育也十分火热。随着Python编程学习热度的不断高涨,如何帮助学生在学习编程时快速提升已经成为一个亟须解决的问题。通过对在线教育平台中学生历史编程数据的挖掘和分析,得到... 在线教育迅速普及,现在已成为一个重要的学习方式,在线编程教育也十分火热。随着Python编程学习热度的不断高涨,如何帮助学生在学习编程时快速提升已经成为一个亟须解决的问题。通过对在线教育平台中学生历史编程数据的挖掘和分析,得到学生在学习编程时最容易出现的程序错误类型,并对学生容易出现这些错误的原因进行分析,为学生进行编程学习提供帮助,同时也为教师进行教学调整提供依据。 展开更多
关键词 大数据 数据挖掘 编程错误 编程错误类型
下载PDF
NAND闪存编程干扰错误研究 被引量:1
5
作者 阳小珊 朱立谷 +1 位作者 张猛 张伟 《中国传媒大学学报(自然科学版)》 2018年第3期23-27,17,共6页
编程干扰错误是3D-TLC NAND闪存的主要错误之一,了解3D-TLC NAND闪存编程干扰错误模式是设计可靠方案的前提和基础。以实际的FPGA测试平台为基础对3D-TLC NAND闪存的编程干扰错误的出错模式进行了测试研究,分析发现:3D-TLC NAND闪存的... 编程干扰错误是3D-TLC NAND闪存的主要错误之一,了解3D-TLC NAND闪存编程干扰错误模式是设计可靠方案的前提和基础。以实际的FPGA测试平台为基础对3D-TLC NAND闪存的编程干扰错误的出错模式进行了测试研究,分析发现:3D-TLC NAND闪存的编程干扰错误会使单元状态转移比例具有不平衡的关系;MSB页、CSB页和LSB页具有不平衡的比特错误比例和比特错误率分布。这些测试发现为设计可靠的方案提供了重要技术参考信息。 展开更多
关键词 NAND闪存 3D-TLC 编程干扰错误 编程干扰错误
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部