期刊文献+
共找到13篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
材料辐照损伤中的点缺陷团簇与一维迁移现象 被引量:2
1
作者 万发荣 《工程科学学报》 EI CSCD 北大核心 2020年第12期1535-1541,共7页
材料辐照损伤是核反应堆材料、尤其是核聚变堆材料所面临的重要问题.高能粒子(中子、离子、电子)辐照在材料中会产生大量的点缺陷,即自间隙原子和空位.这些点缺陷聚集在一起会形成自间隙原子团簇和空位团簇,从而对材料结构和性能的演化... 材料辐照损伤是核反应堆材料、尤其是核聚变堆材料所面临的重要问题.高能粒子(中子、离子、电子)辐照在材料中会产生大量的点缺陷,即自间隙原子和空位.这些点缺陷聚集在一起会形成自间隙原子团簇和空位团簇,从而对材料结构和性能的演化产生重要影响.空位团簇包括有空洞、层错四面体、空位型位错环,而自间隙原子团簇则只有自间隙型位错环.本文介绍了两种点缺陷团簇的性质、及其对于以材料辐照肿胀为主要内容的材料辐照损伤性能的影响.作为空位团簇,比较详细介绍了具有本课题组特色的空位型位错环的研究,同时分析了合金元素和氢同位素对空位型位错环的影响.在铁试样中形成的这种空位型位错环尺寸可达100 nm左右,该空位型位错环具有两种柏氏矢量,b=<100>和b=1/2<111>,前者的数密度比后者高一个数量级.对于自间隙原子团簇,则重点介绍了与其相关的一维迁移现象及其研究动态,该一维迁移性能有可能是影响高熵合金辐照性能的重要因素. 展开更多
关键词 缺陷 缺陷团 一维迁移 辐照损伤 核聚变堆材料
下载PDF
划分IC缺陷团的聚类算法
2
作者 赵天绪 马佩军 郝跃 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 2002年第6期661-665,共5页
大量实验表明了在集成电路 (IC)制造过程中形成的缺陷团之间具有很强的相关性 ,然而现用于划分缺陷团的方法均忽略了缺陷之间的相关性 .因此 ,得到的缺陷分布规律不能有效地反映缺陷在圆片上的分布 .为了提高IC成品率和可靠性仿真和设... 大量实验表明了在集成电路 (IC)制造过程中形成的缺陷团之间具有很强的相关性 ,然而现用于划分缺陷团的方法均忽略了缺陷之间的相关性 .因此 ,得到的缺陷分布规律不能有效地反映缺陷在圆片上的分布 .为了提高IC成品率和可靠性仿真和设计的精度 ,提高缺陷分布模型的准确性 ,该文提出了划分缺陷团的聚类算法 .该方法依据缺陷形成的动力学基础 ,充分考虑了缺陷团之间的相关性 .实验证明该算法用于划分 展开更多
关键词 IC缺陷团 聚类算法 相关性 缺陷分布 集成电路 制造过程
下载PDF
MOCVD生长的GaN薄膜中缺陷团引起的X射线漫散射研究(英文)
3
作者 马志芳 王玉田 +8 位作者 江德生 赵德刚 张书明 朱建军 刘宗顺 孙宝娟 段瑞飞 杨辉 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第7期1242-1245,共4页
采用高分辨X射线衍射对在蓝宝石(0001)面生长的GaN外延膜的漫散射进行了研究.结果表明,GaN薄膜中存在缺陷团,其浓度随着穿透位错密度的增加而增加,其平均半径呈相反趋势.基于位错是点缺陷的聚集区,缺陷团优先在位错附近形成的效应对结... 采用高分辨X射线衍射对在蓝宝石(0001)面生长的GaN外延膜的漫散射进行了研究.结果表明,GaN薄膜中存在缺陷团,其浓度随着穿透位错密度的增加而增加,其平均半径呈相反趋势.基于位错是点缺陷的聚集区,缺陷团优先在位错附近形成的效应对结果进行了解释.同时发现电子迁移率随缺陷团浓度的增加而减少. 展开更多
关键词 X射线漫散射 GAN 缺陷团
下载PDF
缺陷团簇在α-Zr内扩散的分子动力学模拟
4
作者 周起印 李忠宇 《哈尔滨工程大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第3期376-381,共6页
针对目前对于应力条件下材料缺陷演化的认识不足,本文以α-Zr材料为研究对象,采用分子动力学方法模拟计算由4个BS型间隙原子构成的缺陷团簇在材料中的扩散行为,研究了几种温度条件下拉伸应变及晶向对缺陷团簇扩散行为的影响。研究发现:... 针对目前对于应力条件下材料缺陷演化的认识不足,本文以α-Zr材料为研究对象,采用分子动力学方法模拟计算由4个BS型间隙原子构成的缺陷团簇在材料中的扩散行为,研究了几种温度条件下拉伸应变及晶向对缺陷团簇扩散行为的影响。研究发现:温度、应变及晶向均会影响缺陷团簇在α-Zr材料中的扩散行为,缺陷团簇的扩散系数存在差异。结果表明:无应变条件下缺陷团簇在α-Zr材料中发生扩散且是三维扩散;沿[1120]晶向施加拉伸应变时对扩散的影响最明显,[1120]晶向是缺陷团簇主要的扩散晶向,当应变3%时扩散是一维的;应变作用在[1120]和[1100]晶向时,缺陷团簇的迁移能减小,应变作用在[0001]晶向时迁移能增加。本文的研究结果能为α-Zr材料的辐照损伤效应研究提供依据。 展开更多
关键词 分子动力学 间隙原子 拉伸应变 缺陷团 α-Zr 扩散 扩散系数 迁移能
下载PDF
汽车后门外板电泳前基板团斑缺陷分析
5
作者 张维召 王静 《电镀与涂饰》 CAS 北大核心 2023年第8期41-44,共4页
某车型汽车后门外板在电泳前发现基板表面有密集的团状斑点缺陷,影响产品外观。采用扫描电镜和能谱仪对缺陷形貌特征和元素成分进行了分析,确定该缺陷是冲压模具表面不洁所致,并在生产环节中得到验证。提出了相应的改进措施,如保持冲压... 某车型汽车后门外板在电泳前发现基板表面有密集的团状斑点缺陷,影响产品外观。采用扫描电镜和能谱仪对缺陷形貌特征和元素成分进行了分析,确定该缺陷是冲压模具表面不洁所致,并在生产环节中得到验证。提出了相应的改进措施,如保持冲压模具间隙调校、定期清洁和光洁度确认,使团斑缺陷得到有效控制。 展开更多
关键词 汽车外板 热浸镀锌 缺陷 表面形貌 元素组成 故障处理
下载PDF
SI-GaAs中EL2和EL6缺陷团簇相关性研究 被引量:1
6
作者 赵周英 吴凤美 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 1996年第1期32-36,共5页
用光致电流瞬态谱(PITS)方法研究了LECSI-GaAs原生单晶经常规退火和等时快速退火(RTA)深能级缺陷的变化。缺陷EL2(Ec-0.82eV)和EL12(Ec-0.79eV)表现出类似的RTA特性,应属于EL... 用光致电流瞬态谱(PITS)方法研究了LECSI-GaAs原生单晶经常规退火和等时快速退火(RTA)深能级缺陷的变化。缺陷EL2(Ec-0.82eV)和EL12(Ec-0.79eV)表现出类似的RTA特性,应属于EL2缺陷团簇;缺陷EL6(Ec-0.38eV),EL8(Ec-0.27eV)和EL9(Ec-0.24eV)亦具有相似的RTA特性,属EL6缺陷团簇。实验发现,在热退火中,EL2团簇缺陷密度减少,则EL6团簇缺陷密度增加;反之亦然,取决于退火温度的高低,表明EL2,EL6团簇在原子结构上相关。文中由此讨论了两个主要缺陷EL2和EL6的可能构型。 展开更多
关键词 热退火 相关性 缺陷团 单晶 深能级 缺陷
原文传递
He对低活性Fe-Cr-Mn(W,V)合金辐照产生点缺陷行为的影响 被引量:4
7
作者 胡本芙 高桥平七郎 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第9期955-961,共7页
采用超高压电镜与离子加速器相连结的复合辐照装置,研究了注He对低活性Fe-Cr-Mn(W,V)合金辐照产生的点缺陷及二次缺陷行为的影响.实验结果表明:辐照初期形成的点缺陷与He相互作用,进而影响二次缺陷(位错、位错环和空洞)的形成;He明显促... 采用超高压电镜与离子加速器相连结的复合辐照装置,研究了注He对低活性Fe-Cr-Mn(W,V)合金辐照产生的点缺陷及二次缺陷行为的影响.实验结果表明:辐照初期形成的点缺陷与He相互作用,进而影响二次缺陷(位错、位错环和空洞)的形成;He明显促进位错密度增大和空洞核心形成,并导致空洞肿胀增加.对辐照产生的点缺陷与He相互作用的机理进行了理论分析. 展开更多
关键词 Fe-Cr-Mn合金 辐照损伤 HE 缺陷团
下载PDF
金属氚化物的时效和时效效应 被引量:16
8
作者 王隆保 吕曼祺 李依依 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2003年第5期449-469,共21页
结合贮氚材料在核技术中的应用,简要介绍了目前关于3He在氚化物中的存在和演化行为、延缓3He从材料中析出的可能途径以及氚时效对氚化物性能影响的研究进展,并对几种单质氚化物的固He性能进行了比较.为了对照理解,也简要介绍了高能辐照... 结合贮氚材料在核技术中的应用,简要介绍了目前关于3He在氚化物中的存在和演化行为、延缓3He从材料中析出的可能途径以及氚时效对氚化物性能影响的研究进展,并对几种单质氚化物的固He性能进行了比较.为了对照理解,也简要介绍了高能辐照产生的He在材料中的存在行为. 展开更多
关键词 He 氚时效 金属氚化物 固He能力 缺陷团
下载PDF
Sn离子注入PTC陶瓷表面研制气敏陶瓷材料
9
作者 李世普 陈迁 +2 位作者 赵青南 邢宁 樊东辉 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 1994年第2期31-34,共4页
用脉冲金属离子束Sn注入BaTiO_3 PTC陶瓷的表面,结果表明:在低温空气中退火处理,注入层对CO有敏感特性.应用薄膜XRD、XPS、RBS对注入层结构分析表明,注入层对CO的敏感特性是由于注入层形成SnO_2、BaSnO_3等沉淀相引起的,同时还与离子注... 用脉冲金属离子束Sn注入BaTiO_3 PTC陶瓷的表面,结果表明:在低温空气中退火处理,注入层对CO有敏感特性.应用薄膜XRD、XPS、RBS对注入层结构分析表明,注入层对CO的敏感特性是由于注入层形成SnO_2、BaSnO_3等沉淀相引起的,同时还与离子注入引起的缺陷团有关. 展开更多
关键词 脉冲金属离子束 PTC陶瓷 SN 离子注入 缺陷团 沉淀相 热-气敏感功能材料 功能陶瓷
下载PDF
氩离子辐照304奥氏体不锈钢的微观结构状态研究
10
作者 邹阳 王晓彤 +2 位作者 吕鹏 关庆丰 万浩 《真空科学与技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2021年第12期1213-1217,共5页
本文通过氩离子辐照核用304奥氏体不锈钢(AISI 304L),以深入理解其辐照损伤机制。辐照在室温下进行,选用能量为120 keV的氩离子对样品分别进行1×10^(16)cm^(-2)和2×10^(16)cm^(-2)剂量的辐照。并以透射电子显微镜(Transmissio... 本文通过氩离子辐照核用304奥氏体不锈钢(AISI 304L),以深入理解其辐照损伤机制。辐照在室温下进行,选用能量为120 keV的氩离子对样品分别进行1×10^(16)cm^(-2)和2×10^(16)cm^(-2)剂量的辐照。并以透射电子显微镜(Transmission electron microscopy,TEM)为主要分析手段,重点研究辐照后AISI 304L奥氏体不锈钢中的微观结构变化。研究表明:氩离子辐照后,AISI 304L样品中产生了尺寸较小的辐照空洞、位错、黑斑和堆垛层错四面体(SFT)等缺陷,及尺寸较大的位错环等缺陷团簇。随着辐照剂量的增加,位错环和孔洞的尺寸呈长大趋势。此外,退火残留孪晶等变形结构会成为捕获间隙原子的缺陷阱,造成区域空位浓度升高的同时导致孪晶界处缺陷团簇的密集析出。 展开更多
关键词 氩离子辐照 AISI 304L 微观结构 缺陷团 空洞
下载PDF
Fe-Cu合金基体损伤的分子动力学模拟研究 被引量:4
11
作者 贺新福 杨鹏 杨文 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第7期954-957,共4页
采用分子动力学模拟了压力容器模型材料Fe-0.05Cu和Fe-0.3Cu合金的级联碰撞过程.研究了辐照导致的缺陷构型及其特征能量、Cu的空位迁移机理、Cu含量对初始损伤的影响、辐照温度对间隙原子团簇和空位团簇的影响等.结果表明,Cu对级联碰撞... 采用分子动力学模拟了压力容器模型材料Fe-0.05Cu和Fe-0.3Cu合金的级联碰撞过程.研究了辐照导致的缺陷构型及其特征能量、Cu的空位迁移机理、Cu含量对初始损伤的影响、辐照温度对间隙原子团簇和空位团簇的影响等.结果表明,Cu对级联碰撞产生的缺陷数量、湮灭和复合没有明显影响,但可降低空位迁移能.辐照温度对团簇有明显影响. 展开更多
关键词 Fe-Cu合金 辐照损伤 分子动力学 缺陷团
原文传递
氩离子辐照下纯镍薄膜的微观结构状态研究
12
作者 邹阳 王晓彤 +2 位作者 吕鹏 田娜娜 关庆丰 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2021年第8期37-43,共7页
为研究离子辐照对金属材料微观结构状态的影响,以透射电子显微镜为分析手段,探讨氩离子辐照对纯镍薄膜辐照缺陷及变形结构的影响规律。研究结果显示:氩离子辐照纯镍薄膜样品可诱发明显的辐照损伤效应;较低辐照剂量下,辐照缺陷团簇以黑... 为研究离子辐照对金属材料微观结构状态的影响,以透射电子显微镜为分析手段,探讨氩离子辐照对纯镍薄膜辐照缺陷及变形结构的影响规律。研究结果显示:氩离子辐照纯镍薄膜样品可诱发明显的辐照损伤效应;较低辐照剂量下,辐照缺陷团簇以黑点缺陷为主,其中包含大量的层错四面体;辐照剂量较高时,产生孔洞缺陷,其数密度随着辐照剂量而增大,其尺寸呈先上升后下降的趋势。与块体镍材料不同,较高剂量氩离子辐照可在纯镍薄膜中诱发位错扩展和孪生变形,其原因是:材料维度的降低可降低其对称性并抑制位错滑移系统的开动。 展开更多
关键词 氩离子 纯镍薄膜 微观结构 缺陷团 变形孪晶
原文传递
金属Nb级联碰撞的分子动力学模拟 被引量:1
13
作者 马小强 杨坤杰 +3 位作者 徐喻琼 杜晓超 周建军 肖仁政 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2020年第2期249-256,共8页
运用分子动力学方法研究了bcc结构Nb在辐照损伤初期因辐照诱发位移损伤形成和演化的微观过程以及原子机制。选取初级离位原子(primary knock-on atom,PKA)能量5~50 keV,模拟温度300 K,研究了Nb中级联碰撞产生的缺陷数量及其分布随模拟... 运用分子动力学方法研究了bcc结构Nb在辐照损伤初期因辐照诱发位移损伤形成和演化的微观过程以及原子机制。选取初级离位原子(primary knock-on atom,PKA)能量5~50 keV,模拟温度300 K,研究了Nb中级联碰撞产生的缺陷数量及其分布随模拟时间的演化,PKA能量对稳定Frenkel缺陷数目的影响,缺陷团簇的分布等。研究结果显示,级联碰撞会在体系中产生辐照缺陷,Frenkel缺陷对数目和不同的PKA能量区间(5~30 keV和30~50 keV)之间满足不同的幂函数关系,所形成的缺陷大多数以点缺陷的形式存在,空位团簇成团率17%~35%,间隙原子团簇成团率23%~40%,PKA能量越高,空位越容易形成较大的团簇;级联碰撞产生的间隙原子形成了大量的沿<110>方向的哑铃型结构;当PKA能量高于30 keV时,级联碰撞将产生1/2<111>间隙型位错环和<100>空位型位错环。 展开更多
关键词 NB 分子动力学 位移级联 FRENKEL缺陷 缺陷团
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部