期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
破坏性物理分析(DPA)技术促进国产电子元器件质量提高 被引量：9
1
作者 徐爱斌 刘发 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第5期58-60,共3页
简要介绍了破坏性物理分析（DPA）技术的概况和发展,重点介绍了信息产业部电子第五研究所DPA实验室应用DPA技术促进国产军用电子元器件质量提高的几个实际例子。
关键词 DPA 质量提高 破坏性物理分析 电子元器件 缺陷模式控制
下载PDF
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部