软件缺陷移除效率及其测量

软件缺陷移除在任何软件项目中都是开销最大的活动,并在很大程度上影响项目进度,因而对缺陷移除效率的测量成为软件开发组织最为重要的一项软件质量度量。为此通过矩阵的方法来记录缺陷起源和缺陷发现阶段的数据,得出了缺陷移除效率的操作定义,并定义了阶段缺陷移除效率、全面缺陷移除效率、审查效率和测试效率的计算公式。

基于排队论和模拟的缺陷移除重分配策略改进

针对目前软件可靠性研究中对于缺陷移除过程中的不合理假设,应用排队论来模拟软件测试过程中的缺陷移除过程,利用非齐次泊松过程可以近似地模拟缺陷的发现过程,n个独立的单队多服务台(M/M/1)队列用来表示项目组移除缺陷的能力.讨论了不同的缺陷重分配策略对于软件测试的影响,提出一个改进的动态调度的缺陷重分配策略,该策略可以更好地平衡开发人员的利用率,缩短缺陷的平均等待和移除时间,从而帮助项目经理调整人员配置和测试计划.

一种软件缺陷预测改进模型的研究

研究考虑缺陷移除失败的软件缺陷预测改进模型,以提高缺陷预测能力.分析了传统Rayleigh模型的不足,在考虑缺陷移除失败因素的基础上,建立缺陷预测改进模型,并使用经验值及最大似然法估计获得模型参数.实例验证表明,改进模型可以有效地提高软件缺陷预测值与实际值的拟合度.

软件缺陷关联分析与缺陷排除研究

在软件开发过程中,软件缺陷具有传播的特性。缺陷的传播特性决定了缺陷之间并非独立存在,而存在相互关联,因此软件缺陷关联分析对于缺陷排除、软件质量保证、过程改进具有重要的意义。从软件缺陷关联的原因出发,基于面向对象的分析与设计模型,分析了软件缺陷的传播过程,研究了对象关联与软件缺陷关联之间的关系;依据缺陷的传播过程,建立了树状关联规则和特征相似关联规则;最后阐述了建立两种关联规则的步骤,开发了构建树状关联与特征相似关联的软件原型。

面向缺陷分析的广义门电路故障概率的计算

在门级电路的可靠度估计方法中,基本门故障概率p通常是以经验值或人为设定的方式出现,最近才被建模成栅氧化层的故障概率或基本门的输入导线的故障概率.文中结合广义门电路的版图结构信息,分析了故障的形成机理与作用模式、广义门电路的拓扑结构和可靠度的损失机理,并给出了输入导线与栅氧化层的缺陷随时间的生长模型以及缺陷移除率的计算方法,最后建立了包含老化或早期失效的广义门电路的故障概率p模型.通过理论分析与在ISCAS85基准电路上采用经验公式对预测结果进行了拟合,并运用拟合优度检验的策略验证了文中方法的合理性;还分析了老化因素、缺陷移除率、工艺技术、设计方法等对电路可靠度的影响.