相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展

相控阵超声技术是近年来无损检测领域的重点研究方向之一,已经取得了飞速发展,其中基于相控阵超声成像的缺陷识别与分类是研究的热点之一。概述了相控阵超声无损检测的基本原理,介绍了具有代表性的缺陷识别与分类算法,包括支持向量机、人工神经网络、遗传算法、神经进化算法和基于深度学习的算法。最后指出了现有缺陷识别与分类算法面临的挑战,并结合实际提出了相控阵超声缺陷识别与分类的发展方向。