温度对GaN基LED电流加速老化特性的影响

采用电流加速老化的方法研究大功率白光LED的光通量衰减特性,提出了一种包含温度影响因素的LED寿命推算方法.实验发现:LED的光通量衰减速度随着加速电流的增大而变快,同时器件温度升高,温度的升高又会促进LED灯珠的加速老化.通过分组实验,在不考虑温度因素时,采用狭义Eyring公式计算LED的寿命;在考虑温度因素时,采用广义的Eyring公式计算LED的寿命.对比2种模型的计算结果发现:考虑温度影响能更准确的推算出LED的寿命.

合成绝缘子老化试验的测量和数据采集系统

研制了一套用于合成绝缘子5000小时加速老化试验的测量系统.该系统包含基于戴尔服务器的硬件系统和基于LabView平台的软件系统,可实现5000小时老化实验过程中多个特征量的实时分析和记录、老化电流中脉冲电流和泄漏电路的分离、故障后的自动恢复和报警、以及试验统计工作的可持续进行.

通用微处理器等效老化试验方法

针对不同工艺、不同设计的功能全兼容集成电路等效老化的需要,提取出了集成电路等效老化的特征参数—“归一化老化电流”指标α,并讨论了等效老化信号的确定方法。结合集成电路等效老化信号确定方法,以CPU486为研究对象,给出通用CPU等效老化试验方案,为评估和比较不同CPU的质量和可靠性提供了统一的试验平台。

元器件老化筛选试验装置校准方法研究

针对老化筛选试验装置在非常温、封闭状态的试验特点，提供一种老化电压与老化电流数据采集模块、数据传输模块的研制方案。校准方法可以满足在老化筛选试验过程中对数据进行实时采集与校准，复现仪器的实际工作状态。

元器件老化筛选试验装置校准系统设计

解决老化筛选试验设备在元器件的极限电压、极限电流和非常温(-55℃~80℃)的条件下进行而校准无法实时进行的问题,本文提出了老化筛选试验设备的一种校准解决方案,设计了数据采集单元、处理单元和传输单元的老化筛选试验装置校准系统,可满足在老化筛选试验状态下完成对老化设备的校准。保证了老化筛选试验装置的量值准确。

大功率白光LED的寿命计算

本文用电流加速老化实验法测试1W大功率白光LED光衰及寿命。发现光衰减存在两种过程:前期的缓慢衰减和后期的快速衰减。针对前期衰减通过指数拟合算出不同老化电流下的寿命,确认本批LED寿命和工作电流关系符合Eying模型,由此推得额定电流(350mA)下的寿命τ=1924h。

808nm大功率半导体激光器可靠性分析

激光器是理想的电光直接转换器件,延长半导体激光器的使用寿命,提高半导体激光器的可靠性,是大功率半导体激光器的研究热点。文中采用温度应力加速和电流步进应力两种老化方法对808 nm的大功率半导体激光器进行老化试验,得到寿命分别为1 682 h和1 498 h,实验结果基本一致,并在显微镜下观察破坏性老化试验之后的器件,分析得到失效原因主要来自腔面退化、焊料退化和欧姆接触不良。