基于质量控制法的电子元件老化筛选系统设计

随着电子元件在各行各业中的广泛应用,然而,经过长时间使用,电子元件的性能可能会发生变化,有效筛选老化后的电子元件变得至关重要。因此,本文旨在设计基于质量控制法的电子元件老化筛选系统。该系统以电子元件的性能变化为监测对象,通过数据采集、筛选判定和数据记录等模块,实现对元件老化情况的实时监测和评估。通过实时监测元件的性能变化,实现对其老化情况的及时评估,为保障系统的稳定性和可靠性提供支持。

SLD光源老化筛选监测系统的设计与实现

本文从光纤陀螺用SLD光源老化筛选的实际需要出发,提出了一种SLD光源老化筛选监测系统的设计方案。结合SLD光源自身特点,设计了光功率、驱动/温控电流及内部温度4种与光源状态相关的参数采集模块,利用LabVIEW平台编制了系统监控软件,对系统各部分所实现功能及关键模块的设计进行了详细介绍,设计实现了SLD光源老化筛选监测系统试验样机,并通过样机进行设计验证,给出了验证结论及系统性能指标。实验结果表明系统工作可靠,可满足多只SLD光源老化筛选监测需要。

LD老化筛选及寿命测试系统

介绍了半导体激光二极管 (LD)老化及寿命测试的理论依据 ,给出了寿命测试的数学模型 ,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统 ,该系统在密封抽真空充氮环境下 ,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度 ,绘制LD的老化曲线 ,即恒流条件下的“P -t曲线” 。

连续半导体激光器单条阵列老化筛选系统

介绍了用于连续高功率半导体激光器单条阵列的老化筛选系统,通过对积分球采集激光功率进行理论分析,确定了积分球内壳的参数。采用水冷积分球,实现了激光功率探测部分的冷却,同时解决了激光功率采集以及球壳内部散热的问题。利用光电探测器、数据采集卡等硬件实现了激光功率信号的光电转换以及模数转换,基于LabVIEW环境开发了激光功率采集软件,实现了对高功率激光的实时采集、记录。最终建立了采集稳定性好、准确度高的老化筛选系统。

元器件老化筛选试验装置校准方法研究

针对老化筛选试验装置在非常温、封闭状态的试验特点，提供一种老化电压与老化电流数据采集模块、数据传输模块的研制方案。校准方法可以满足在老化筛选试验过程中对数据进行实时采集与校准，复现仪器的实际工作状态。

核电仪控产品部件老化筛选

讨论了核电厂仪表和控制设备研制中部件老化筛选的相关问题。结合现有的电子部件筛选的工作实际情况,依据现行标准及其相关规定和实验要求,重点对现阶段无法检验的贴片电子器件的检验方法给出了相应的建议和解决方案。

元器件老化筛选试验装置校准系统设计

解决老化筛选试验设备在元器件的极限电压、极限电流和非常温(-55℃~80℃)的条件下进行而校准无法实时进行的问题,本文提出了老化筛选试验设备的一种校准解决方案,设计了数据采集单元、处理单元和传输单元的老化筛选试验装置校准系统,可满足在老化筛选试验状态下完成对老化设备的校准。保证了老化筛选试验装置的量值准确。

核电厂安全级电缆老化管理筛选方法研究

核电厂的电缆数量众多,规格不一,敷设路径复杂,在安全级电缆老化管理过程中如果对每一根电缆的老化程度进行评估,既不现实,也无必要。文章介绍了核电厂安全级电缆的老化机理、电缆老化管理的筛选原则和设计阶段的筛选方法,为核电厂电缆老化管理对象的确定提供了方法参考。

我所进行元器件老化筛选的一些情况

结合本研究所新产品研制的实际情况 ,阐述了元器件使用中所存在的一些问题 ,进行元器件老化筛选的意义 ;提供了老化筛选的一些统计数据 ;介绍了该所对老化筛选所采取的若干措施以及筛选的效果。

电子元器件老化筛选过程的质量管理

结合本单位工程实践,论述了在对电子元器件进行老化筛选中开展质量管理的重要性和必要性,阐述了应重点控制的环节和采取的主要措施。

核电厂仪控设备研制中元器件筛选问题的讨论

本文主要讨论了核电厂仪表和控制设备研制中元器件筛选相关问题的研究,对国内一些科研单位和元器件筛选服务机构给出的元器件筛选数据进行了收集和整理,同时对核电厂仪表和控制设备研制生产中元器件筛选的有效性和必要性问题进行了讨论,并对开展元器件筛选可能面临的困难和替代方法进行讨论,对如何开展元器件筛选给出建议。

一种基于SPI通信电路的可靠性老化方法

集成电路在生产完成后,为了确保可以持续的长时间在用户应用场景下使用,需要对集成电路进行高温动态老化测试。集成电路高温动态老化测试就是在高温下对芯片施加应力的同时进行各类的功能测试,让芯片超负荷工作而使其缺陷加速暴露,从而剔除有故障芯片的过程[1]。现在使用的老化试验装置只能实现对常规功能的集成电路的老化测试,无法对复杂的、具有可编程功能的集成电路进行全面老化。本文介绍了一种具有SPI通信的LED驱动器的可靠性老化筛选试验方法,结合现有的ELEA-V高温动态老化系统,以具有可编程功能的数字集成电路MAX7219型串行接口8位LED显示驱动器(以下统称器件)为例,提出了以数字信号为主的老化筛选方案并完成验证,取得了一定的成果,对后期该类产品的可靠性老化试验具有一定的指导意义。

集成电路测试技术与应用

通过对IMS公司生产的集成电路测试系统ATS的描述,讨论了集成电路(IC)的测试技术及其在ATS上的应用方法,并以大规模集成电路芯片8255为例,给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。

功率裸芯片的质量与可靠性保证方法

论述了常规裸芯片质量与可靠性保证的标准和技术,针对功率器件裸芯片,提出了高性能和高可靠性设计、制造工艺保障、验证筛选等质量与可靠性保证方法和技术途径;讨论了采用临时封装夹具技术,对功率裸芯片进行热敏参数筛选、结温控制老化筛选、高温高压反偏筛选等,最终实现对功率裸芯片100%的筛选,满足MCM和HIC对功率裸芯片的质量与可靠性要求。

CPU技术发展及其可靠性评价研究

本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高,而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段。面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多有待解决的新的技术挑战,强调了制定可操作的CPU老化试验技术规范的紧迫性。

光纤通信中光源的可靠性

本文详细地讨论了光纤通信的光源——半导体激光器(LD)和发光管(LED)的可靠性;重点论述了长波长光源的可靠性以及筛选方法。

SDZ-3000快速测井平台的可靠性设计

产品的可靠性是与产品的功能和性能同等重要的技术指标。文章通过介绍SDZ-3000快速测井平台(简称SDZ-3000)在研制、生产过程中所采取的保障产品可靠性设计方法和管理措施,总结出了在贯彻可靠性设计思想方面所取得的宝贵经验,对进一步提高石油测井仪器的可靠性方面进行研究与探索。

25 Gb/s粗波分复用分布式反馈激光器的可靠性研究

高速波分复用分布式反馈(DFB)激光器是数据通信的核心器件,其可靠性影响了整个通信系统的可靠性。对自主研发的25 Gb/s 4波长粗波分复用(CWDM4) DFB激光器进行了2种老化筛选(Burn-in)实验和失效分析,并采用三温法推算了激光器的工作寿命。实验结果表明:对激光器采用光加速(25℃、100 mA)和温度加速(100℃、75 mA)相结合的Burn-in方法能够有效激发薄弱激光器的早期失效特征;采用三温法推算激光器在60℃、45 mA环境下长期工作的实际寿命至少为17年。

关于提高配电网供电可靠性的对策

随着社会的发展和农村人民生活水平的不断提高,人们对供电的质量要求越来越高,供电可靠性愈来愈受到人们的关注,配电网络的供电可靠性,直接关系到用户用电的安全和可靠,关系到供电企业的生存和发展,关系到整个城镇的发展。因此,如何确保和提高配电网的安全可靠运行,是每一个供电企业都必须关心的重要课题。本文就如何确保提高配电网安全可靠运行进行了详细阐述。

电子元器件可靠性试验

本文基于电子技术水平的发展,对电子产品中的电子元器件也提出了更高的要求,为评价分析元器件是否适应预定的环境和可靠性指标,就需要进行可靠性试验进行鉴定和考核。