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提高粒子碰撞噪声检测试验可靠性的途径
1
作者
林萍
韩闯
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期124-126,共3页
文章从粒子碰撞噪声检测(PIND)试验的原理入手,着重阐述了影响PIND试验的因素和提高PIND试验可靠性的途径。通过对PIND试验的波形分析来提高PIND试验的可靠性,使试验数据更客观、准确,以此来保证和提高产品质量。
关键词
耗子碰接噪卢检测
集成电路
可靠性试验
PIND
产品质量
粘附剂
清洁度
下载PDF
职称材料
题名
提高粒子碰撞噪声检测试验可靠性的途径
1
作者
林萍
韩闯
机构
中国电子科技集团公司第二十四研究所
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期124-126,共3页
文摘
文章从粒子碰撞噪声检测(PIND)试验的原理入手,着重阐述了影响PIND试验的因素和提高PIND试验可靠性的途径。通过对PIND试验的波形分析来提高PIND试验的可靠性,使试验数据更客观、准确,以此来保证和提高产品质量。
关键词
耗子碰接噪卢检测
集成电路
可靠性试验
PIND
产品质量
粘附剂
清洁度
Keywords
Particle impact noise detection (PIND)
Integrated circuit
Reliability test
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
提高粒子碰撞噪声检测试验可靠性的途径
林萍
韩闯
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2003
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