利用ATR单点全反射技术以及XPS(X光电子能谱 )测试方法对聚苯乙烯 聚二甲基硅氧烷嵌段 (PS b PDMS)和接枝共聚物 (PS g PDMS)进行了研究 ,发现聚合物膜表面存在着有机硅富集层 ,PS b PDMS有机硅表面富集程度要高于PS g PDMS ,而且不同...利用ATR单点全反射技术以及XPS(X光电子能谱 )测试方法对聚苯乙烯 聚二甲基硅氧烷嵌段 (PS b PDMS)和接枝共聚物 (PS g PDMS)进行了研究 ,发现聚合物膜表面存在着有机硅富集层 ,PS b PDMS有机硅表面富集程度要高于PS g PDMS ,而且不同溶解度参数的成膜溶剂和不同极性的成膜介质对有机硅富集程度有一定的影响 .展开更多
文摘利用ATR单点全反射技术以及XPS(X光电子能谱 )测试方法对聚苯乙烯 聚二甲基硅氧烷嵌段 (PS b PDMS)和接枝共聚物 (PS g PDMS)进行了研究 ,发现聚合物膜表面存在着有机硅富集层 ,PS b PDMS有机硅表面富集程度要高于PS g PDMS ,而且不同溶解度参数的成膜溶剂和不同极性的成膜介质对有机硅富集程度有一定的影响 .