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取向硅钢晶粒取向的不均匀分布及其检测 被引量:2
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作者 刘恒三 毛卫民 +1 位作者 陈冷 冯惠平 《物理测试》 CAS 2004年第3期19-21,24,共4页
利用X射线衍射和背散射电子衍射检测了取向硅钢板表层和中心部位的宏观织构和微观晶粒取向分布,观察了相应的晶粒组织。结果表明,二次再结晶不彻底的成品钢板的表面会残留非{110}<001>取向的小晶粒,并影响钢板的软磁性能。取向硅... 利用X射线衍射和背散射电子衍射检测了取向硅钢板表层和中心部位的宏观织构和微观晶粒取向分布,观察了相应的晶粒组织。结果表明,二次再结晶不彻底的成品钢板的表面会残留非{110}<001>取向的小晶粒,并影响钢板的软磁性能。取向硅钢板表层的晶粒取向分布能够在一定程度上反映出钢板的质量,因此可以借助X射线表面无损检测技术发展取向硅钢织构的工业在线检测技术。 展开更多
关键词 取向硅钢 晶粒组织 织构 不均匀性 X射线衍射 背散射电子衍射检
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