汞荧光检测的塞曼效应干扰排除机制研究

本实验利用塞曼效应结合原子荧光光谱法来对有干扰气体以及背景微粒影响下的汞浓度校正进行探究。基于理论计算的方法得到了SO_(2)在垂直于磁场方向与平行于磁场方向上的塞曼能比值为1.96。实验研究了在不通气体的情况下背景微粒散射的背景值,同时利用不同偏振方向上测得的总荧光与浓度校正后的单独汞的荧光之差得到了SO_(2)的荧光值,并且其实验比值与理论计算一致。最后利用塞曼效应原子荧光光谱法对有干扰物质影响下的汞浓度进行精确地校正,且校正结果与单独通入汞的荧光线性曲线具有高度的重合性,说明利用该方法能够实现对汞浓度的精确校正。