非对称加权惩罚最小二乘算法校正X射线荧光法定量精铜痕量银元素模型

针对精铜中痕量银元素定量时特征X射线存在背景干扰的问题,采用非对称加权惩罚最小二乘算法(arPLS)对X射线荧光光谱进行基线校正,建立精铜中痕量银元素定量检测模型。通过改变算法平滑参数(λ)和收敛条件(ratio),研究痕量元素X射线光谱基线随参数变化规律,对60组光谱数据采用调整参数并图像监控的方式估计基线。所建立的定量模型不确定度系数R2=0.9862,均方根误差(RMSE)为0.0040 wt%。与不经背景校正算法相比,定量模型R2提高了0.0211,RMSE降低了0.0023 wt%,预测值和参考值平均相对误差缩减了2倍,预测不确定度由0.0028 wt%降低为0.0025 wt%。所建立的定量模型可应用于冶金在线检测、金属回收、合金强化等领域。