理学SIMULTIX 10/11型多道X射线荧光光谱仪的背景测定装置与应用

文章介绍了理学SIMULTIX 10/11多道同时型X射线荧光光谱仪上所配备的具有背景测定与扣除功能的固定型测角仪的原理、特点和应用实例。该测角仪能明显地提高痕量元素分析的灵敏度与准确度,而且扩大了对于不同类型样品的分析适应范围,例如铁素体与奥氏体样品中钒的测定等。