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脉冲激光背照射单粒子效应实验研究 被引量:5
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作者 王德坤 曹洲 +1 位作者 刘海南 杨献 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第7期884-887,共4页
为避免集成电路正面金属层对激光的阻挡,采用背面照射的方法对非加固SRAM IL-2和加固SRAM 1020-2进行了单粒子效应实验。对脉冲激光背面照射实验的相关问题进行了探讨。比较了两种器件产生单个位翻转的有效激光阈值能量,验证了器件加固... 为避免集成电路正面金属层对激光的阻挡,采用背面照射的方法对非加固SRAM IL-2和加固SRAM 1020-2进行了单粒子效应实验。对脉冲激光背面照射实验的相关问题进行了探讨。比较了两种器件产生单个位翻转的有效激光阈值能量,验证了器件加固措施的有效性。 展开更多
关键词 单粒子效应 SRAM 背面辐照 脉冲激光 抗辐射加固
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