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荧光X射线分析仪(XRF)在电子材料检验中的应用
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作者 李剑亮 《通信与广播电视》 2008年第2期36-41,共6页
近年来X射线荧光光谱分析有了长足的进步,特别在ROHS电子材料检验等方面,得到了广范应用,成为现代分析技术的一种重要手段。
关键词 荧光x射线 能散型荧光x 射线分析仪(EDx) ROHS指令
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