斜磁场作用双阱势中的能谱统计特征

计算了斜磁场作用下量子双阱的能谱 ,给出了其最近邻能级间距分布和谱刚度 .统计分析表明 ,系统的能级统计分布和所加磁场的大小有关 ;磁场 B越大

能谱涨落统计特征稳定性分析

通过引入权重 ,并用一能级数等于简并谱的无趋向性序列为标准去衡量简并邻间距谱的趋向性 ,由此建立分析简并谱涨落统计特征稳定性的MKS无参量试验法 ;根据该方法 ,具体分析、比较了H2 O分子低激发态与高激发态振动能谱涨落统计特征 ,找出了从低激发态向高激发态过度时涨落统计特征明显改变点。