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题名基于互连线延时的SET脉冲宽度评估模型
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作者
张凤
周婉婷
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机构
电子科技大学电子科学技术研究院
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出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2018年第5期677-681,共5页
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基金
国家自然科学基金联合基金资助项目(U1630133)
中央高校基本科研业务费资助项目(ZYGX2016J185)
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文摘
研究了互连线延时对单粒子瞬态脉冲效应的影响。研究发现,随着互连线长度的增加,瞬态脉冲首先被展宽,在一定距离后,脉冲宽度衰减为零。基于此研究结果,提出了脉冲宽度随互连线长度变化的数学解析模型。在SMIC 130nm、90nm CMOS工艺下,采用Spice软件对应用该数学解析模型的多种器件进行验证。结果表明,该数学解析模型的计算值与仿真值误差最大为6.09%,最小为0.37%。该模型提高了单粒子瞬态脉冲宽度的评估准确度,可应用于单粒子瞬态脉冲效应的硬件加速模拟。
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关键词
单粒子瞬态
互连线延时
脉冲宽度评估
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Keywords
single event transient
interconnect delay
pulse width evaluation
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分类号
TN406
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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