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中国散裂中子源RCS注入区H0CT测量系统研制
1
作者
邱瑞阳
黄蔚玲
+8 位作者
曾磊
徐智虹
李芳
孟鸣
杨涛
王安鑫
刘孟宇
孙纪磊
徐韬光
《强激光与粒子束》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第2期106-111,共6页
中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式,碳膜将H-剥离两个电子后变成质子,多圈涂抹注入到快循环同步环加速中,并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命,在I-Dump束线上新研发并安装...
中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式,碳膜将H-剥离两个电子后变成质子,多圈涂抹注入到快循环同步环加速中,并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命,在I-Dump束线上新研发并安装了一套束流流强探测器(H0CT),用于测量未完全剥离的H-和H0(H-被剥离一个电子)粒子。为了测量μA级束流,H0CT弱流强测量系统的研制考虑了外部干扰,配合探头、线缆及电子学低噪声的抗干扰设计,将环境噪声及干扰的影响降至最低,提高信噪比,实现了μA级脉冲电流的测量。
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关键词
CSNS
H0CT
脉冲流强测量
μA级
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职称材料
题名
中国散裂中子源RCS注入区H0CT测量系统研制
1
作者
邱瑞阳
黄蔚玲
曾磊
徐智虹
李芳
孟鸣
杨涛
王安鑫
刘孟宇
孙纪磊
徐韬光
机构
散裂中子源科学中心
中国科学院高能物理研究所
中国科学院大学
出处
《强激光与粒子束》
CAS
CSCD
北大核心
2023年第2期106-111,共6页
基金
国家自然基金联合基金项目(U2032165)。
文摘
中国散裂中子源的强流质子加速器采用剥离注入的方式,碳膜将H-剥离两个电子后变成质子,多圈涂抹注入到快循环同步环加速中,并加速至1.6 GeV。为了精确测量剥离膜的剥离效率并研究不同厚度剥离膜的使用寿命,在I-Dump束线上新研发并安装了一套束流流强探测器(H0CT),用于测量未完全剥离的H-和H0(H-被剥离一个电子)粒子。为了测量μA级束流,H0CT弱流强测量系统的研制考虑了外部干扰,配合探头、线缆及电子学低噪声的抗干扰设计,将环境噪声及干扰的影响降至最低,提高信噪比,实现了μA级脉冲电流的测量。
关键词
CSNS
H0CT
脉冲流强测量
μA级
Keywords
CSNS
H~0CT
pulsed current measurement
microampere
分类号
TL506 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
中国散裂中子源RCS注入区H0CT测量系统研制
邱瑞阳
黄蔚玲
曾磊
徐智虹
李芳
孟鸣
杨涛
王安鑫
刘孟宇
孙纪磊
徐韬光
《强激光与粒子束》
CAS
CSCD
北大核心
2023
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