低能脉冲电子探束研究“气-固”界面

介绍了利用低能脉冲电子探束研究“气 固”界面的基本原理和方法 ,并实验研究了室温T =30 0K、1× 10 - 3Pa真空条件下 ,O2 ,N2 Ni,W“气 固”界面的相互作用 ,即吸附、脱附与置换作用 ,测量了电子诱导脱附产额、脱附截面和阈值能量 。

利用脉冲调制电子探束测量电子诱导脱附阈值能量

本文介绍脉冲调制电子探束测量电子诱导脱附阈值能量方法的原理 ,同时给出该法进行电子诱导脱附阈值能量测量的实验及结果。与传统的直流电子探束测量电子诱导脱附阈值能量的方法相比 ,使得测量设备简化的同时 ,有效地提高测量的准确性和精度 ,使电子诱导脱附阈值能量的测量拓展到高真空的范围。

N_2在多晶Ni表面电子诱导脱附的实验研究

电子诱导脱附是近年来在真空科学与表面科学领域内的热门研究课题。电子诱导脱附不仅作为研究和探讨原子激发过程以及电子能量传输机制的有效手段,而且已经逐渐成为获取表面和界面结构、状态等信息的有效方法。本文介绍了利用两种实验装置研究N2在多晶Ni表面的电子诱导脱附实验,测量了(1×10^(-3) Pa)条件下,N2在多晶Ni表面的脱附产额、电子诱导脱附阈值能量等重要的物理参量。实验研究工作不仅为进一步深入理解和探讨电子诱导脱附内在机制提供了直接的实验依据,而且对表面吸附状态、吸附-脱附过程等理论研究工作以及真空测量、电子轰击除气等工程应用工作都有重要意义。