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增强组合电路脉冲窄化效应的软错误率优化布局方法
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作者 刘畅 贺旭 +1 位作者 梁斌 郭阳 《计算机辅助设计与图形学学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第6期1158-1165,共8页
为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;... 为了提高芯片抗辐照性能,提出了一种基于电荷共享效应的组合电路软错误率优化布局方法.首先减少已有quenching单元对间距以增强脉冲窄化效应;然后通过插入和交换操作增加电路中quenching单元对数量,以提高电路发生脉冲窄化效应的概率;最后实现了一个组合电路软错误率优化布局及评估平台,可自动地完成布局及软错误率评估.模拟结果表明,该方法可以减小最终被捕获的脉冲宽度,减少14%~26%的软错误率. 展开更多
关键词 软错误率 电荷共享效应 脉冲窄化效应 单粒子瞬态 详细布局方法 软错误率评估
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抗单粒子效应的动态逻辑电路版图加固方法
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作者 王海滨 杨云楼 《电子测试》 2015年第10期36-40,共5页
在高速电路设计中,动态逻辑电路应用十分广泛。但由于缺乏内在的上拉恢复路径,动态逻辑电路对单粒子效应极其敏感。因此,相比静态逻辑电路,它们在可靠性要求较高的应用中缺乏吸引力。因此,基于版图布局技术,提出了两个抗单粒子效应的动... 在高速电路设计中,动态逻辑电路应用十分广泛。但由于缺乏内在的上拉恢复路径,动态逻辑电路对单粒子效应极其敏感。因此,相比静态逻辑电路,它们在可靠性要求较高的应用中缺乏吸引力。因此,基于版图布局技术,提出了两个抗单粒子效应的动态逻辑电路设计。因为敏感节点之间的电荷共享效应,单粒子瞬态脉冲得到抑制。仿真结果和实验数据验证了它们具有更高的防止单粒子效应错误的能力。 展开更多
关键词 动态逻辑 抗辐射加固 单粒子效应 软错误 脉冲窄化
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