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工作气压对多脉冲鞘层动力学行为的影响
被引量:
3
1
作者
李义
敬晓丹
+1 位作者
李久会
雷明凯
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第5期589-593,共5页
分别采用低压非稳态扩散流体模型和碰撞流体模型描述了等离子体浸没离子注入平面靶表面过程中等离子体回复扩散和鞘层演化行为,通过数值求解两流体模型研究了不同工作气压下多脉冲鞘层的时空演化动力学特征。计算结果表明,在连续脉冲作...
分别采用低压非稳态扩散流体模型和碰撞流体模型描述了等离子体浸没离子注入平面靶表面过程中等离子体回复扩散和鞘层演化行为,通过数值求解两流体模型研究了不同工作气压下多脉冲鞘层的时空演化动力学特征。计算结果表明,在连续脉冲作用下,开始几个脉冲内的注入离子流和离子碰撞能量较高,几百微秒内迅速降低并达到一个稳定值。多个脉冲作用后的离子注入参数稳定值比初始一个脉冲内的结果更准确,更具理论指导意义。工作气压对初始等离子体密度分布、注入离子流和离子碰撞能量影响显著。较低的工作气压无论对提高离子注入剂量还是离子碰撞能量都是十分有利的。
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关键词
等离子体浸没离子注入
多
脉冲鞘层
等离子体扩散
流体模型
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职称材料
介质靶表面的充电效应对等离子体浸没离子注入过程中鞘层特性的影响
被引量:
10
2
作者
李雪春
王友年
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第8期2666-2669,共4页
针对等离子体浸没离子注入技术在绝缘体表面制备硅薄膜工艺 ,采用一维脉冲鞘层模型描述介质靶表面的充电效应对鞘层厚度、注入剂量及靶表面电位等物理量的影响 .数值模拟结果表明 :随着等离子体密度的增高 ,表面的充电效应将导致鞘层厚...
针对等离子体浸没离子注入技术在绝缘体表面制备硅薄膜工艺 ,采用一维脉冲鞘层模型描述介质靶表面的充电效应对鞘层厚度、注入剂量及靶表面电位等物理量的影响 .数值模拟结果表明 :随着等离子体密度的增高 ,表面的充电效应将导致鞘层厚度变薄、表面电位下降以及注入剂量增加 。
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关键词
等离子体浸没离子注入
脉冲鞘层
绝缘介质
充电效应
硅薄膜
注入剂量
原文传递
PIII中工作气压和占空比优化关系的数值研究
3
作者
李义
敬晓丹
+1 位作者
李久会
雷明凯
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第10期1162-1168,共7页
等离子体浸没离子注入中的等离子体扩散过程和鞘层演化行为分别由低压非稳态扩散流体模型与鞘层碰撞流体模型来进行描述,数值模拟研究了工作气压与占空比对离子注入剂量和能量的影响。计算结果表明,工作气压不变时,随占空比变化,一定时...
等离子体浸没离子注入中的等离子体扩散过程和鞘层演化行为分别由低压非稳态扩散流体模型与鞘层碰撞流体模型来进行描述,数值模拟研究了工作气压与占空比对离子注入剂量和能量的影响。计算结果表明,工作气压不变时,随占空比变化,一定时间内的离子注入剂量有极大值,并且极大值对应的占空比会随着工作气压降低而减小。工作气压较高时,占空比越小离子碰撞能量越高;而工作气压较低时,占空比越大离子碰撞能量越高。相同工作气压下占空比对离子注入剂量的影响要比离子碰撞能量显著。
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关键词
等离子体浸没离子注入
多
脉冲鞘层
流体模型
工作气压
占空比
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职称材料
题名
工作气压对多脉冲鞘层动力学行为的影响
被引量:
3
1
作者
李义
敬晓丹
李久会
雷明凯
机构
辽宁工业大学理学院
大连理工大学材料科学与技术学院表面工程研究室
出处
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015年第5期589-593,共5页
基金
辽宁工业大学教师科研启动基金项目(X201320)
文摘
分别采用低压非稳态扩散流体模型和碰撞流体模型描述了等离子体浸没离子注入平面靶表面过程中等离子体回复扩散和鞘层演化行为,通过数值求解两流体模型研究了不同工作气压下多脉冲鞘层的时空演化动力学特征。计算结果表明,在连续脉冲作用下,开始几个脉冲内的注入离子流和离子碰撞能量较高,几百微秒内迅速降低并达到一个稳定值。多个脉冲作用后的离子注入参数稳定值比初始一个脉冲内的结果更准确,更具理论指导意义。工作气压对初始等离子体密度分布、注入离子流和离子碰撞能量影响显著。较低的工作气压无论对提高离子注入剂量还是离子碰撞能量都是十分有利的。
关键词
等离子体浸没离子注入
多
脉冲鞘层
等离子体扩散
流体模型
Keywords
Plasma immersion ion implantation
Multiple pulses sheath
Plasma diffusion
Fluid model
分类号
O539 [理学—等离子体物理]
TL612.3 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
介质靶表面的充电效应对等离子体浸没离子注入过程中鞘层特性的影响
被引量:
10
2
作者
李雪春
王友年
机构
大连理工大学物理系
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004年第8期2666-2669,共4页
基金
教育部"跨世纪优秀人才培养计划"基金资助的课题~~
文摘
针对等离子体浸没离子注入技术在绝缘体表面制备硅薄膜工艺 ,采用一维脉冲鞘层模型描述介质靶表面的充电效应对鞘层厚度、注入剂量及靶表面电位等物理量的影响 .数值模拟结果表明 :随着等离子体密度的增高 ,表面的充电效应将导致鞘层厚度变薄、表面电位下降以及注入剂量增加 。
关键词
等离子体浸没离子注入
脉冲鞘层
绝缘介质
充电效应
硅薄膜
注入剂量
Keywords
plasma immersion ion implantation, pulse sheath, dielectric, charging effects
分类号
O539 [理学—等离子体物理]
原文传递
题名
PIII中工作气压和占空比优化关系的数值研究
3
作者
李义
敬晓丹
李久会
雷明凯
机构
辽宁工业大学理学院
大连理工大学材料科学与技术学院表面工程研究室
出处
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016年第10期1162-1168,共7页
基金
辽宁省教育厅科学研究一般项目(2015233)
辽宁工业大学教师科研启动基金项目(201320)
文摘
等离子体浸没离子注入中的等离子体扩散过程和鞘层演化行为分别由低压非稳态扩散流体模型与鞘层碰撞流体模型来进行描述,数值模拟研究了工作气压与占空比对离子注入剂量和能量的影响。计算结果表明,工作气压不变时,随占空比变化,一定时间内的离子注入剂量有极大值,并且极大值对应的占空比会随着工作气压降低而减小。工作气压较高时,占空比越小离子碰撞能量越高;而工作气压较低时,占空比越大离子碰撞能量越高。相同工作气压下占空比对离子注入剂量的影响要比离子碰撞能量显著。
关键词
等离子体浸没离子注入
多
脉冲鞘层
流体模型
工作气压
占空比
Keywords
PIII, Multiple pulses sheath, Fluid model, Processing pressure, Duty cycle
分类号
O539 [理学—等离子体物理]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
工作气压对多脉冲鞘层动力学行为的影响
李义
敬晓丹
李久会
雷明凯
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2015
3
下载PDF
职称材料
2
介质靶表面的充电效应对等离子体浸没离子注入过程中鞘层特性的影响
李雪春
王友年
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2004
10
原文传递
3
PIII中工作气压和占空比优化关系的数值研究
李义
敬晓丹
李久会
雷明凯
《真空科学与技术学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2016
0
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职称材料
已选择
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