R网开裂缺陷原因及应对方法

针对膜极距电解槽的R网局部开裂的现象,进行了原因分析。通过数据统计、理化检验、微观分析等方法得出结论:R网开裂是由其基体T丝晶粒异常粗大导致。针对根本原因,制定并实施了改进措施。经过生产验证跟踪,改进措施有效消除R网的开裂现象,为R网产品的技术选代夯实基础。