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题名微光像增强管离子阻挡膜质量测试技术研究
被引量:1
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作者
贺英萍
张太民
石峰
朱宇峰
拜晓锋
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机构
微光夜视技术国防科技重点实验室
西安应用光学研究所
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出处
《应用光学》
CAS
CSCD
北大核心
2009年第3期482-485,共4页
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文摘
鉴于通常制作的离子阻挡膜存在通孔,在阴极低电压下,经MCP电子倍增在荧光屏上显示为亮孔,为测试出规则与不规则亮孔的大小和数量,提出了一种像管的离子阻挡膜质量测试方法。该方法是在规定电压和光阴极照度的条件下,使像管光阴极接收约2lx的光照射,给像管各极施加电压使像管荧光屏上离子阻挡膜亮孔清晰可见,用10倍显微镜或相机拍照,观察荧光屏所成的离子阻挡膜通孔图像。试验结果表明:在相同的测试条件下,离子阻挡膜的制作工艺不同,离子阻挡膜质量亦不同。
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关键词
微光像管
微通道板
离子阻挡膜
膜质量测试
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Keywords
image intensifier tube
MCP
ion barrier film
testing of ion barrier film quality
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分类号
TN15-34
[电子电信—物理电子学]
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