一种六边形芯片自动定位测试方法的研究与实现

探针台是半导体芯片测试的高精密仪器,可以连接测试仪,分选出晶圆里面的不合格芯片,减少后续工作的加工耗费。随着半导体行业的不断发展,芯片的种类也变得多样化,其中六边形芯片的分选测试,还没有一个快速的测试方法。文中研究并且实现了一种测试六边形芯粒的新方法,新型测试方法已经交付客户现场测试使用,测试结果得到了客户认可,解决了客户的测试难题。