自动扫描测试技术及其在半导体器件测试中的应用

以ＣＤ－ＲＯＭ半导体激光器为例，介绍了半导体器件测试的计算机自动扫描技术及其接口电路。这种技术方便、快捷、准确，不需要对器件进行制冷和温度控制即可得到特性曲线与温度变化的关系。

数字集成电路的自动扫描测试(续)

二、触发器的自动扫描测试 这部分将介绍D触发器T076和JK触发器T078的测试电路,其它触发器的测试电路亦可用类似方法构成。