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SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法
被引量:
1
1
作者
张皓
裴玉奎
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第3期223-228,240,共7页
星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路。为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,...
星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路。为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,完成对SEM IP核的功能验证。为提高测试效率,设计了基于上述平台的自动注错方法。经过验证,该方法能够达到预期的帧地址覆盖率。实验结果表明,SEM IP核具备软错误注入与缓解功能,自动注错方法有利于此IP核的实际应用。
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关键词
单粒子翻转(SEU)效应
静态随机存储器(SRAM)
现场可编程门阵列(FPGA)
软
错
误缓解(SEM)控制器IP核
自动注错
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职称材料
题名
SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法
被引量:
1
1
作者
张皓
裴玉奎
机构
清华大学电子工程系
清华大学宇航中心
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017年第3期223-228,240,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(61301079
91338103
91538202)
文摘
星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路。为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,完成对SEM IP核的功能验证。为提高测试效率,设计了基于上述平台的自动注错方法。经过验证,该方法能够达到预期的帧地址覆盖率。实验结果表明,SEM IP核具备软错误注入与缓解功能,自动注错方法有利于此IP核的实际应用。
关键词
单粒子翻转(SEU)效应
静态随机存储器(SRAM)
现场可编程门阵列(FPGA)
软
错
误缓解(SEM)控制器IP核
自动注错
Keywords
single event upset(SEU) effect
static random access memory(SRAM)
field programmable gate array(FPGA)
soft error mitigation(SEM) controller IP core
automatic error injection
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法
张皓
裴玉奎
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2017
1
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