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同时故障模拟方法的研究及其实现
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作者 柏慧 段正华 《湖南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 1999年第S1期189-192,197,共5页
详细阐述了ATGS及其故障模拟的理论和技术实现,提出了同时故障模拟算法.
关键词 自动测试生成系统 同时故障模拟 数字系统
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VLSI门级及功能级混合测试生成技术
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作者 赵战平 《航空精密制造技术》 1992年第6期24-26,43,共4页
介绍了混合形式自动测试图形生成技术,该技术将门级测试图形生成技术与在线路高一级抽象形式上进行测试生成技术相结合。利用该技术开发的自动测试生成程序在内附检测器自动植入模块后可用于VLSI线路的设计系统。
关键词 自动测试生成系统 门级测试生成 基本功能单元 并存错误检测(CED)
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