逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法

针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果.

超大规模集成电路测试技术

随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。

多攻击线引起的串扰时延故障的TPG

探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.

一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法

介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互连线段的功耗则通过RC等效模型得到。将所有被使用的资源功耗相加,得到该设计所对应的最大功耗值,作为结构探索和在实际应用中阵列规模选取、布局布线优化的指导。

基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现

基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的网表文件编译器,该编译器能正确分析EDIF网表文件的词法,并能准确分析其语法结构,并进行适当的冲突处理和错误处理,能快速准确地提取被测电路的网络器件名、物理器件名、对应封装、属性、网络连接情况等,为自动测试矢量生成提供相应信息;该设计针对EDIF标准利用flex和bison工具开发词法分析器和语法分析器,并将结果集成到VS2008开发环境中,与传统的基于C++设计的编译器相比,该方法具有工作量小、设计精巧、功能强大的特点,且更易于修改和扩充。