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逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
1
作者
崔小乐
杨轩
+1 位作者
程作霖
李崇仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015年第1期184-191,共8页
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入...
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果.
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关键词
老化试验
自动测试矢量生成
转换故障
功耗权重
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职称材料
超大规模集成电路测试技术
被引量:
6
2
作者
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术...
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
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关键词
测试
生成
算法
自动测试矢量生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
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职称材料
多攻击线引起的串扰时延故障的TPG
被引量:
3
3
作者
颜学龙
梁晓琳
尚玉玲
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2008年第11期153-156,共4页
探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回...
探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.
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关键词
时延故障
多攻击线
自动测试矢量生成
FAN算法
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职称材料
一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法
4
作者
雍珊珊
王新安
+1 位作者
谢峥
曹颖
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第2期153-156,163,共5页
介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互...
介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互连线段的功耗则通过RC等效模型得到。将所有被使用的资源功耗相加,得到该设计所对应的最大功耗值,作为结构探索和在实际应用中阵列规模选取、布局布线优化的指导。
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关键词
功耗评估
可重构算子阵列
自动测试矢量生成
FPGA
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职称材料
基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现
5
作者
周晓亮
黄新
颜学龙
《计算机测量与控制》
北大核心
2013年第10期2862-2864,共3页
基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的...
基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的网表文件编译器,该编译器能正确分析EDIF网表文件的词法,并能准确分析其语法结构,并进行适当的冲突处理和错误处理,能快速准确地提取被测电路的网络器件名、物理器件名、对应封装、属性、网络连接情况等,为自动测试矢量生成提供相应信息;该设计针对EDIF标准利用flex和bison工具开发词法分析器和语法分析器,并将结果集成到VS2008开发环境中,与传统的基于C++设计的编译器相比,该方法具有工作量小、设计精巧、功能强大的特点,且更易于修改和扩充。
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关键词
自动测试矢量生成
边界扫描
网表编译
EDIF
FLEX
BISON
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职称材料
题名
逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
1
作者
崔小乐
杨轩
程作霖
李崇仁
机构
北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室
出处
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015年第1期184-191,共8页
基金
国家"九七三"重点基础研究发展计划项目(2015CB057201)
国家自然科学基金(61006032)
+2 种基金
广东省自然科学基金(S2011010001234)
深圳市科技计划(JCYJ20140417144423194
JCYJ20140417144423198)
文摘
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入组合情况下的功耗权重进行了分析;根据逻辑仿真结果,引入功耗权重指标来描述在不同矢量组合输入条件下被测电路的功耗;以哈密尔顿回路为模型,采用遗传算法在功耗权重的引导下进行优化输入矢量序列的选取.在ISCAS’85基准电路上的实验数据表明,文中方法选取的输入矢量序列可在保持较高电路功耗的同时有效地减少电路中无跳变节点的数量,起到了功耗均匀化的效果.
关键词
老化试验
自动测试矢量生成
转换故障
功耗权重
Keywords
burn-in
ATPG
transition fault
power weighting
分类号
TN470 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP806 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
超大规模集成电路测试技术
被引量:
6
2
作者
朱莉
林其伟
机构
华侨大学信息学院物理电子学系
出处
《中国测试技术》
2006年第6期117-120,共4页
文摘
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术的发展趋势。
关键词
测试
生成
算法
自动测试矢量生成
可测性设计
内建自
测试
存储器
测试
静态功耗电流
Keywords
Test algorithms
ATPG
DFF
BIST
Memory testing
IDDQ
分类号
TP29 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
多攻击线引起的串扰时延故障的TPG
被引量:
3
3
作者
颜学龙
梁晓琳
尚玉玲
机构
桂林电子科技大学电子工程学院
西安电子科技大学电路CAD研究所
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2008年第11期153-156,共4页
基金
总装国防“十一五”预研项目(51323030406)
文摘
探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.
关键词
时延故障
多攻击线
自动测试矢量生成
FAN算法
Keywords
delay fault
multiple aggressors
automatic test pattern generation
FAN algorithm
分类号
TP302 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法
4
作者
雍珊珊
王新安
谢峥
曹颖
机构
北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第2期153-156,163,共5页
基金
深圳科技提升计划基础研究重点项目(JCYJ20120614150120560)
文摘
介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互连线段的功耗则通过RC等效模型得到。将所有被使用的资源功耗相加,得到该设计所对应的最大功耗值,作为结构探索和在实际应用中阵列规模选取、布局布线优化的指导。
关键词
功耗评估
可重构算子阵列
自动测试矢量生成
FPGA
Keywords
Power evaluation
Reconfigurable operator array
ATPG
FPGA
分类号
TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现
5
作者
周晓亮
黄新
颜学龙
机构
桂林电子科技大学电子工程与自动化学院
出处
《计算机测量与控制》
北大核心
2013年第10期2862-2864,共3页
文摘
基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的网表文件编译器,该编译器能正确分析EDIF网表文件的词法,并能准确分析其语法结构,并进行适当的冲突处理和错误处理,能快速准确地提取被测电路的网络器件名、物理器件名、对应封装、属性、网络连接情况等,为自动测试矢量生成提供相应信息;该设计针对EDIF标准利用flex和bison工具开发词法分析器和语法分析器,并将结果集成到VS2008开发环境中,与传统的基于C++设计的编译器相比,该方法具有工作量小、设计精巧、功能强大的特点,且更易于修改和扩充。
关键词
自动测试矢量生成
边界扫描
网表编译
EDIF
FLEX
BISON
Keywords
automatic test vector generation boundary scan
netlist compiler
EDIF flex
bison
分类号
TP314 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
崔小乐
杨轩
程作霖
李崇仁
《计算机辅助设计与图形学学报》
EI
CSCD
北大核心
2015
0
下载PDF
职称材料
2
超大规模集成电路测试技术
朱莉
林其伟
《中国测试技术》
2006
6
下载PDF
职称材料
3
多攻击线引起的串扰时延故障的TPG
颜学龙
梁晓琳
尚玉玲
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2008
3
下载PDF
职称材料
4
一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法
雍珊珊
王新安
谢峥
曹颖
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2015
0
下载PDF
职称材料
5
基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现
周晓亮
黄新
颜学龙
《计算机测量与控制》
北大核心
2013
0
下载PDF
职称材料
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