一种线结构光自扫描测量系统的研究

为了实现对复杂自由曲面的快速精确测量,提出了一种由CCD摄像机、振镜和激光线投射器组成的全视觉自扫描测量系统。该系统利用光学三角法确定了一种新的测量物体表面三维坐标的方式。基于该方式,此测量系统使用平面靶标实现了对摄像机内部参数的标定,借助振镜转动驱动激光平面完成了对摄像机视场内被测物体的扫描,最终根据激光平面方程和计算机二维平面图像信息获得了被测物体的三维数据。试验结果证明,该系统能以较快速度实现自由曲面的精确测量。

PIN结构自扫描光电二极管列阵的研究

通过对再充电采样方式的自扫描光电二极管列阵（ＳＳＰＡ）工作原理分析，对列阵中光电二极管工作模式进行较深入的探讨，指出影响其性能的主要因素。提出了用ＰＩＮ结构代替常用的ＰＮ结结构的光电二极管组成ＳＳＰＡ。经过ＰＩＮ结构和ＭＯＳ电路兼容工艺方案的分析及实验，测试结果表明ＰＩＮ结构有利于改进ＳＳＰＡ的性能，是研究高性能ＳＳＰＡ的新结构。

自扫描光电二极管在激光粒度仪中的应用

本文根据Fraunhofor衍射理论,提出了采用自扫描光电二极管阵列的激光粒度仪的设计方案,建立了求解颗粒分布的计算模型.详细介绍了数据采集中的信号同步问题,给出了数据采集流程图.数值仿真和实测结果证明,本文的设计方案是正确实用的.

低功耗MOS图象传感器自扫描电路的研究

从高位数,低功耗MOS图象传感器发展的需要出发,对MOS图象传感器的自扫描电路进行研究。提出以一种带变容管自举电路的三管动态无比电路作MOS图象传感器的自扫描电路。该电路采用硅栅P-MOS工艺,是一种高速度,低功耗的动态无比电路。也是一种高位数列阵中的实用单元电路,它较好地解决了列阵功耗随位数增加而变大的问题。

CL128E与CL256C型自扫描光电二极管列阵的研究

本文详细地阐述了CL 128 E和CL 256 C自扫描光电二极管列阵的电路框图及工作原理.讨论了降低器件噪声的电路结构及工艺设计要点.提出了一种新颖的高速、低功耗电路作为列阵的扫描电路,对其工作原理进行了分析.最后给出了上述两种器件的技术参数测试结果.

自扫描光电二极管阵列均匀性较正

在利用自扫描光电二极管阵列 (SSPA)图像传感器进行图像处理的过程中 ,由于图像传感器存在着不均匀性问题 ,影响了图像的质量 ,为此研制了自扫描光电二极管均匀性校正电路。校正电路采用模数转换器 DAC0 80 8、存贮器 2 75 12、串行计数器 4 0 4 0等器件组成。当光强在 10 %到 90 %饱和范围内变化时 ,图像传感器的不均匀度从2 0 %校正到 3%。

自同步自扫描固体激光器电源

本文描述了一种自同步自扫描固体激光器电源。提出了一种新的自扫描控制电路,该电路使扫描脉冲与可控硅所加电压完全同步。此外,还报导了电源整机的原理、性能以及具体工作电路技术指标等。

精密光学编码器用的自扫描光电二极管阵列传感器

根据精密光学编码器的性能要求，设计和制造了一种具有１６个像元的专用的自扫描光电二极管阵列（ＳＳＰＡ）。通过分析ＳＳＰＡ的工作原理、设计和实验结果，表明此传感器能满足精密光学编码器的要求。

可任意构造自扫描阵列传感器技术

提出了用多个点传感器构成可以测量同种或不同种参数的多维阵列传感器的方法和技术.所得的信号采用自扫描方式,并实行多路、多向信号同时传输,以利提高阵列传感器的采样速度,实现数据并行输出.此法特别适合于传感信息图象化处理,其输出可直接用于显示、驱动或形成图象数据.自构造阵列传感器,能根据实际测量环境、被测参数变化规律确定阵列的排列.

自扫描光电二极管CL512J型列阵的研究

为了满足光电二极管列阵不同类型的应用需要，新研制了 ＣＬ５１２Ｊ型光电二极管列 阵传感器．论述其工作原理，重点对器件进行了设计方面的研究：包括光敏元的设计、扫描 电路的设计和版图的设计分析．指出了工艺制造中的关键技术．最后给出了ＣＬ５１２Ｊ型器件 的光电参数和电学参数的测试结果，表明该器件具有显著的优点，将会在光电检测领域内得 到应用，达到国内先进水平．

双光柱自扫描等离子体显示板

本文描述了一种直流等离子体板——双光柱自扫描等离子体显示板的基本原理及构造,它阐述了双光柱显示板电极图形、介质图形的设计思想,介绍了制板过程中实现201根阴极线的厚膜印刷技术以及显示板的封接、排气充气等工艺;本文还列出了我们对美国同种显示板的解剖分析结果。

基于共面法的结构光自扫描测量系统参数标定方法

针对结构光自扫描测量系统参数标定问题,提出了一种基于共面法的高精度标定方法,能够同时标定系统的内外参数。建立了相机和系统模型,采用张正友方法标定相机和平面棋盘靶标内外参数,针对系统标定需求完成了靶标位置规划,在同一光平面下变换靶标位姿获取共面光条中心点,利用多组中心点数据分别求解各光平面方程。由于多个平面交线不唯一,定义了优化目标函数对振镜转轴在相机坐标系下的表达进行优化求解,求得振镜坐标系与相机坐标系的转换矩阵完成标定。该方法标定过程简单,算法运算量小,便于现场标定。结果表明,标定方法具有较高精度,能够满足测量要求。

水下线结构光自扫描三维测量技术

为了对水下物体进行高速度、大范围的三维测量,提出了水下线结构光自扫描三维测量技术。采用振镜将激光面反射到被测空间,激光面与被测物体相交形成光条并被摄像机拍摄,根据像面上光条中每一点的位置计算出该点由于折射产生的偏移大小并加以补偿。再利用考虑折射后的光平面水中部分在振镜坐标系下的方程,求出物体表面的三维坐标。实验结果表明,所提出的水下自扫描系统模型及水下三维测量方法可行,在深度为0.5-1 m,测量高度为0.5 m,测量宽度为0.6 m的空间内测量精度达到0.7 mm。

新型自扫描激光干涉系统

本文介绍了一种新型自扫描激光干涉系统的原理和结构。该系统采用自扫描光电二极管列阵（以下简称ＳＳＰＤＡ）接收器件，实现对干涉仪信号的调制，使测量信号转换成交流信号，避免了直流放大器零点漂移，消除了低频干扰。实验证明，该系统在采用普通器件的情况下，其分辨率优于０．０２μｍ。

工业X-CT新型探测器技术

探测器及其技术是工业X CT系统中的关键技术之一。文中提出了基于光纤面板光耦合及传输 ,采用闪烁晶体和自扫描光电二极管列阵器件的X射线新型探测器技术方案 ,并对此方案进行了实验研究。结果表明 ,该新型探测器技术方案具有结构紧凑、性能可靠且分辨率高等特点 ,可以实际应用于工业X CT系统中。

基于SPD的物体色快速分光测试系统设计

根据光度学与色度学理论,采用国际照明委员会(CIE)推荐的d/8标准照明/观察几何条 件,应用自扫描光电二极管阵列(SPD)作为光电探测器,设计了由积分球、脉冲光源、多色仪、光电放大与A/D转换器以及专用计算机等部分组成的双光路多通道物体表面色全光谱快速测试系统。该系统单次测色周期小于1秒,对陶瓷白板的测量精度(色度坐标)优于0.0003,重复性达到0.0001,满足了快速又准确的分光测色要求。

一种紫外光谱测量的微型光纤光栅光谱仪设计

介绍了用于太阳紫外光谱250nm～450nm测量微型光纤光栅光谱仪.该谱仪采用C-T正交型结构,采用滨松自扫描光电二极管阵列(SSPD)为探测元件.介绍了谱仪的辐射定标和探测器驱动及数据采集电路设计,讨论了积分时间与信噪比之间的关系.

提高强度调制型光纤传感器动态探测范围的方法

研究了扩大强度调制光纤传感器动态探测范围的方法 ,通过采用自扫描光电二极管阵列(SSPA)曝光时间控制、激光源输出功率控制和可编程信号调理等措施 。

光探测器在光源测量中的选用

对用于光测设备的几种光电探测器的原理。

光电测量二维微角位移的新方法研究与实现

为了解决对旋转台定位精度校准的同时又能对其台面俯仰角度进行测量的问题,提出了一种光电测量二维微角位移的新方法。在激光自准直光路中,采用数字信号处理器(DSP)获取准直物镜焦平面上V字形分划板在自扫描光电二极管阵列(SSPA)上两次成像之间的位移量,根据光学成像原理与像的外形特征,建立了像的平面位移量与被测物体二维角位移量的关系式,从而计算出角位移量。此方法的测量精度达到0.9″,满足旋转台校准的需要。