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GaN薄膜在自持金刚石衬底上的ECR—PEMOCVD法的生长研究
1
作者
苗丽华
张东
《中国科技信息》
2014年第2期42-44,共3页
利用电子回旋共振等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)技术,采用三甲基镓(TMGa)和氮气(N2)作为实验反应源,改变不同的沉积温度,在自支持金刚石衬底上沉积制备了高择优取向的GaN薄膜。利用高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(X...
利用电子回旋共振等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)技术,采用三甲基镓(TMGa)和氮气(N2)作为实验反应源,改变不同的沉积温度,在自支持金刚石衬底上沉积制备了高择优取向的GaN薄膜。利用高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)等测试方式,研究了沉积温度的变化对GaN薄膜的结晶性和表面形貌的影响。
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关键词
自持金刚石衬底
GAN薄膜
ECR—PEMOCVD
沉积温度
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职称材料
题名
GaN薄膜在自持金刚石衬底上的ECR—PEMOCVD法的生长研究
1
作者
苗丽华
张东
机构
沈阳医学院计算机与数理基础教学部数理教研室
沈阳工程学院新能源学院新能源材料与器件系
出处
《中国科技信息》
2014年第2期42-44,共3页
基金
辽宁省教育厅科学研究一般项目(L2012374)
文摘
利用电子回旋共振等离子体增强金属有机物化学气相沉积(ECR-PEMOCVD)技术,采用三甲基镓(TMGa)和氮气(N2)作为实验反应源,改变不同的沉积温度,在自支持金刚石衬底上沉积制备了高择优取向的GaN薄膜。利用高能电子衍射(RHEED)、X射线衍射(XRD)和原子力显微镜(AFM)等测试方式,研究了沉积温度的变化对GaN薄膜的结晶性和表面形貌的影响。
关键词
自持金刚石衬底
GAN薄膜
ECR—PEMOCVD
沉积温度
分类号
O484.1 [理学—固体物理]
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职称材料
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作者
出处
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1
GaN薄膜在自持金刚石衬底上的ECR—PEMOCVD法的生长研究
苗丽华
张东
《中国科技信息》
2014
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