基于载波调制和特征识别的光纤地震数据采集系统自检技术

提出一种基于载波调制和特征识别的光纤地震数据采集系统自检技术,可以对光纤检波器阵列中的光纤检波器进行通断自检,并对地震数据采集系统的信号拾取功能进行自检。由于光纤检波器阵列中的光纤检波器在有回光和没有回光的情况下,地震数据采集软件接收到的信号存在显著差异,因此,在采集软件中通过特征识别的方法可以对光纤检波器有无回光进行通断自检。通过在高频载波中携带震动信号频段的调制信号,观察光纤解调器的解调输出结果,可以实现对光纤地震数据采集系统的信号拾取功能的自检。基于载波调制和特征识别的自检技术可以解决目前光纤地震数据采集系统缺乏有效自检技术的问题。

微机保护装置的自检技术

本文在提出电力和配电微机控制系统硬件自检必要性的基础上,具体给出了CPU、存储器、I/○通道等硬件的自检方法。合理地使用这些技术可以在一旦硬件出故障时,装置自身能发现并报警,以便在短期内修复。

精密车削圆锥面及在线自检技术

分析了精密车削圆锥面时正切法存在的综合误差、测头走的轨迹是双曲线、着色法定性检测等缺陷,并一一解析了产生缺陷的原因。分别针对这3种缺陷提出了消除综合误差、改进测头形状、在线检测的解决方案,从操作者的角度解决了高精度圆锥面的加工问题。

自检技术在无人直升机中的应用

文章主要针对无人直升机的自检技术展开论述,论文阐述了有人直升机的飞行前检查到无人直升机的自主检测技术的发展历程,以一个典型的无人直升机自检过程为例,详细描述了自检的内容和方法。针对目前的直升机自检技术现状,提出了存在的问题,探讨了可能解决的方法,分析了无人直升机自检技术未来的发展方向和应用前景。

塔式起重机装拆与安全技术自检

随着建筑工程逐步向高大、短工期方向发展,塔式起重机在建筑施工中的拆迁日益频繁,装拆成了一个十分重要的工作环节,而安装单位的安全技术自检就成了保障塔式起重机安全使用的重要手段。

具有自检功能的自动气象站系统设计

根据自动气象站各类检测手段的优势与不足,引入当前自动化设备中常用的自检技术,设计了一套集成系统。该系统针对各气象要素的采样需求设计信号源电路及测量电路,并通过定时自检的方式及时获取系统主机自身的运行状况和测量精度,自检流程的时序由定时器及自检变量控制。集成了前端质量控制后,该系统在智能化、集约化方面均有较大提升。对于维护工作而言,该系统能将故障精准定位并及时提示维护人员,使维护工作更具有针对性。

容错技术在工业消防自动灭火系统中的应用

在天津卷烟厂烟叶仓库消防自动灭火系统的设计中,通过应用大量容错技术,主要包括容错技术中的冗余技术和自检技术,以提高系统的可靠性。实际工程验证,容错技术是提高自动灭火系统可靠性的有效手段,大大提高了系统的可靠性。

面向智能变电站的环网分布式弧光保护系统

在新一代智能变电站建设中,为保证中低压母线的可靠性和安全性,充分利用先进的网络通信技术提供的可共享的数据信息,与合并单元和智能单元配合,提出了适用于智能变电站的环网分布式弧光保护系统。通过双重冗余环网将从机互联并共享数据,依托于通信的高可靠性,各从机不进行逻辑判断,采用单主机设计方案。点带通用式传感器及其自检技术有利于系统的扩展和检修,快速跳闸技术可提高智能变电站的整体性能。

民用飞机智能电源模块设计与实现

伴随着我国民用飞机设计的不断发展,各类机载设备中的电源模块已不再是单一供电设备的代名词,智能电源的出现使得电源的设计更为复杂、功能更为多样。如何进一步提高对电源模块的监控变得越发突出。从智能电路设计研究出发,按照电路功能划分,详细描述了软件架构,同时运用自检测技术(Built-In-Test,BIT)提升了智能电源的可控性和智能性。实际使用证明,该电源智能电路在智能配电软件的控制下能够良好地满足智能监控和控制功能,保障机载设备运行的安全。

运动高清，飘逸灵动——康佳LC42DT08AC

LC42DT08AC作为康佳i-sport08运动高清系列的主打机型之一,除搭载独有"双120Hz+FHD"技术平台外,更有多处顶尖配置,系统全面的创新成就了这款奥运"珍藏版"平板电视。康佳LC42DT08AC在工业设计上有突破性的发展。国际先进的"无痕注塑"工艺首度运用于i-sport08系列机型,实现了彩电产品外壳向高光泽、耐刮痕、免喷涂的跨越。这款电视的外壳采用"镶嵌式前置安装工艺"。

运动高清——康佳LC42DT08AC

LC42DT08AC作为康佳i-sport08运动高清系列的主打机型之一,除搭载独有"双120Hz+FHD"技术平台外,更有多处顶尖配置,系统全面的创新成就了这款奥运"珍藏版"平板电视。

安捷伦科技推出BIST Assist 6.4为高速链路提供了成本最低的生产测试解决方案

市场对通信与消费类电子设备的需求继续推动集成电路的功能性及复杂性提升。随着技术进步以及芯片设计的不断复杂,在半导体公司力求以最短的周期提供足够测试面的同时降低测试成本的过程中,测试已经成为他们面临的挑战。