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大面积芯片/DBC基板自蔓延互连热应力场研究
被引量:
1
1
作者
向语嫣
周政
+3 位作者
张峻
刘辉
周龙早
吴丰顺
《电子工艺技术》
2019年第4期187-191,共5页
与传统整体加热的大面积芯片/DBC基板焊料互连方法相比,使用自蔓延薄膜为局部热源的焊料互连方法有加热迅速、热影响区小和热量集中等特点。主要采用有限元模拟的方法,对大面积芯片/DBC基板自蔓延互连过程中的热应力场进行分析,得到了...
与传统整体加热的大面积芯片/DBC基板焊料互连方法相比,使用自蔓延薄膜为局部热源的焊料互连方法有加热迅速、热影响区小和热量集中等特点。主要采用有限元模拟的方法,对大面积芯片/DBC基板自蔓延互连过程中的热应力场进行分析,得到了不同时刻互连结构的翘曲变化,研究了压力对互连结构残余应力的影响规律。
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关键词
自蔓延互连
热应力场
有限元模拟
Al/Ni
自蔓延
薄膜
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职称材料
题名
大面积芯片/DBC基板自蔓延互连热应力场研究
被引量:
1
1
作者
向语嫣
周政
张峻
刘辉
周龙早
吴丰顺
机构
华中科技大学
北京卫星制造厂
出处
《电子工艺技术》
2019年第4期187-191,共5页
基金
国家自然科学基金(61574068)
文摘
与传统整体加热的大面积芯片/DBC基板焊料互连方法相比,使用自蔓延薄膜为局部热源的焊料互连方法有加热迅速、热影响区小和热量集中等特点。主要采用有限元模拟的方法,对大面积芯片/DBC基板自蔓延互连过程中的热应力场进行分析,得到了不同时刻互连结构的翘曲变化,研究了压力对互连结构残余应力的影响规律。
关键词
自蔓延互连
热应力场
有限元模拟
Al/Ni
自蔓延
薄膜
Keywords
self-propagating interconnection
thermal stress field
finite element simulation
Al/Ni self-propagating film
分类号
TN60 [电子电信—电路与系统]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
大面积芯片/DBC基板自蔓延互连热应力场研究
向语嫣
周政
张峻
刘辉
周龙早
吴丰顺
《电子工艺技术》
2019
1
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