基于自适应匹配半径视觉背景提取的IC焊点检测算法

为了提高IC焊点缺陷检测的效果,本文提出基于自适应匹配半径视觉背景提取的IC焊点检测算法。首先使用大量合格焊点进行建模,而后将待检测样本与训练好的模型进行对比得到潜在的缺陷像素点。通过频率分布图对像素点添加不同的权重,提出一种缺陷描述方法。试验结果证明,与其他方法相比,本文方法拥有更好的IC焊点检测性能。