基于PMC故障模型的NASD诊断算法

在PMC故障模型下,现有的自适应顺序诊断算法(ASD算法)不能充分利用所有的测试结果。为了有效地减少测试次数,提高诊断效率,提出一种新的自适应顺序诊断算法(NASD算法)。引入相对故障单元的概念,给出并证明了故障单元和无故障单元的判别定理。据此给出系统诊断的策略:(1)边寻求无故障单元边确诊故障单元;(2)已确认的故障单元不再参与任何测试;(3)找到无故障单元或故障单元数接近一半时,系统诊断结束。实例表明,NASD算法优于其他ASD算法。

边界扫描测试的自适应完备诊断算法的优化

IEEE1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键。在分析传统边界扫描测试生成算法和W步、C步自适应测试生成算法的基础上,提出了一种改进的自适应测试生成算法。实验表明该算法具有完备的诊断能力和紧凑性指标较低的优点,是一种性能优良的完备测试生成算法。