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三维地形数据自适应金字塔技术的设计与实现 被引量:2
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作者 党全营 黄飞龙 +1 位作者 彭伟峰 陈刚 《北京测绘》 2014年第5期12-15,共4页
传统金字塔模型主要解决单一数据源数据的存储和数据的调度问题,无法满足三维地理信息系统对多源异构金字塔数据动态扩展和快速更新数据的需求,基于此,文章提出三维自适应金字塔模型,并进行了技术分析,通过构建多源异构数据适配器,将三... 传统金字塔模型主要解决单一数据源数据的存储和数据的调度问题,无法满足三维地理信息系统对多源异构金字塔数据动态扩展和快速更新数据的需求,基于此,文章提出三维自适应金字塔模型,并进行了技术分析,通过构建多源异构数据适配器,将三维地形数据转换为地形数据逻辑单元,实现多源异构数据的统一,着力解决异构金字塔数据的统一调度和显示问题。 展开更多
关键词 自适应金字塔模型 多源异构数据 适配器 地形数据逻辑单元
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基于自适应金字塔的红外图像超分辨率重建算法
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作者 祁伟 李伟 陈钱 《电子技术与软件工程》 2020年第3期138-139,共2页
本文通过分析红外图像特性,提出了一种自适应金字塔的红外图像超分辨率重建算法,利用多层信息互补实现图像重建。本算法通过金字塔架构获取不同尺度字典的结构信息,并通过一个自适应均值融合计算单元,用于细节重组。实验结果表明,本文... 本文通过分析红外图像特性,提出了一种自适应金字塔的红外图像超分辨率重建算法,利用多层信息互补实现图像重建。本算法通过金字塔架构获取不同尺度字典的结构信息,并通过一个自适应均值融合计算单元,用于细节重组。实验结果表明,本文提出的算法能够获得清晰的图像,且视觉质量高。 展开更多
关键词 自适应金字塔 红外图像 超分辨率重建
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改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法 被引量:1
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作者 陈乐 周永霞 祖佳贞 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2024年第2期295-303,共9页
偏光片是液晶显示器的重要组成部分,其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量,甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题,提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平... 偏光片是液晶显示器的重要组成部分,其表面缺陷不仅会降低液晶显示器的显示质量,甚至可能造成整个液晶面板的报废。针对偏光片表面缺陷存在尺度差异大、形状变化多样的问题,提出一种改进YOLOX-S的偏光片表面缺陷检测算法。提出自适应平衡特征金字塔(ABFP)模块充分融合主干网提取的多级特征,并通过单个卷积增加检测分支,进一步增强模型的多尺度检测能力。在ABFP中引入注意力模块CBAM关注重要特征。采用CIo U损失函数的同时使用Mish激活函数替代Si LU激活函数。实验结果表明,改进的算法在偏光片表面缺陷数据集上的m AP_(50)和m AP_(50:95)分别达到92.97%和55.16%,相比YOLOX-S(FPN)提升了1.86和1.34个百分点,每秒检测帧数(FPS)达到50,基本满足工业实时检测的需求。 展开更多
关键词 偏光片表面 缺陷检测 YOLOX-S 自适应平衡特征金字塔 CIoU Mish
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一种均匀抗噪自适应的ORB特征提取算法 被引量:3
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作者 赵宇琦 连晓峰 +1 位作者 谭励 刘栋 《计算机仿真》 北大核心 2022年第4期321-327,共7页
针对原始ORB算法特征点检测密集度高、抗噪能力弱、自适应性能差等问题,提出一种具有均匀抗噪自适应性能的改进特征提取算法。首先采用快速自适应图像金字塔(FAIP)对原始输入图像进行高斯滤波、差分运算、归一化、降采样等步骤建立多尺... 针对原始ORB算法特征点检测密集度高、抗噪能力弱、自适应性能差等问题,提出一种具有均匀抗噪自适应性能的改进特征提取算法。首先采用快速自适应图像金字塔(FAIP)对原始输入图像进行高斯滤波、差分运算、归一化、降采样等步骤建立多尺度图层,并基于图层尺度逐层对待提取特征点数量进行约束,在改善尺度自适应性能的条件下提高运算效率;其次为增强抗噪能力并改善特征旋转自适应性能,提出一种三维描述子灰度质心法(3D-DGC),主要是在灰度描述基础上添加水平与竖直方向的梯度描述以构成一个三维描述子向量;最后采用四叉树特征管理算法(QtFM)在逐层四等分窗口中选择Harris值最大的特征点,以优化特征点的均匀度。实验结果表明,与原始ORB算法及其它改进算法相比,根据所提算法提取的图像特征点鲁棒性更强。 展开更多
关键词 特征提取 快速自适应图像金字塔 三维描述子灰度质心法 四叉树特征管理
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基于GP-AdaLAM的芯片引脚缺陷快速检测算法 被引量:1
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作者 杜佳伟 彭劲松 +2 位作者 何贞志 杨威威 陆向宁 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2023年第4期638-646,共9页
芯片的引脚缺陷检测在智能制造中具有重要意义,它的质量监控关系到后续贴装工艺中能否将类似方块平面封装(QFP)的小尺寸芯片安装到印刷电路板(PCB)上,从而影响电子器件的良率.为了实现芯片引脚的缺陷的快速分类,本文提出一种基于高斯金... 芯片的引脚缺陷检测在智能制造中具有重要意义,它的质量监控关系到后续贴装工艺中能否将类似方块平面封装(QFP)的小尺寸芯片安装到印刷电路板(PCB)上,从而影响电子器件的良率.为了实现芯片引脚的缺陷的快速分类,本文提出一种基于高斯金字塔-自适应局部仿射匹配(Gauss pyramids-adaptive locally-affine matching,GP-AdaLAM)的缺陷检测算法,实现了引脚宽度、间距、长宽比和倾斜角度的尺寸测量及缺陷检测.首先,采用GP-AdaLAM算法对芯片进行匹配定位,仿射变换后分割提取引脚区域,结合边缘检测和轮廓识别算法去除干扰区域得到待测引脚感兴趣区域,最后对每个引脚区域选取多组测量点计算取平均值作为检测结果.通过不同算法的对比实验分析,实验结果表明本算法单张图像定位时间为0.2 s,测量误差±0.01 mm,可以实现对芯片高质量、全方面的缺陷类型检测.因此,基于GP-AdaLAM的芯片引脚缺陷算法可用于芯片引脚参数的快速、高精度测量,并实现芯片缺陷的智能检测与分析. 展开更多
关键词 机器视觉 高斯金字塔-自适应局部仿射匹配 边缘检测 引脚测量 缺陷检测
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