基于模糊灰色理论的芯片封装质量评价

在芯片封装质量评价过程中,由于存在着很多模糊灰色不确定因素,因此,采用传统方法很难对其进行正确的评价。通过研究,首先构建了基于模糊灰色理论芯片封装质量评价模型,然后,又分别构建了芯片的标准数据库和故障库,通过比较待识芯片关联度的计算对芯片封装质量进行评价。并在理论研究的基础上,对芯片封装质量进行评价实验。证明该方法的先进性与可行性。