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基于单目视觉的集成电路芯片引脚共面性检测 |
霍风祥
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《中国新技术新产品》
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2024 |
0 |
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2
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一种集成芯片引脚外观检测系统的研究 |
杨勇
乔辉
方志良
母国光
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《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2002 |
5
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3
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基于机器视觉的SOP芯片引脚缺陷检测系统设计 |
李本红
张淼
欧幸福
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《电子器件》
CAS
北大核心
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2017 |
16
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4
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基于高精度轮廓线激光的芯片引脚共面度视觉检测系统 |
宋丽梅
杨宏超
魏泽
杨燕罡
马振宇
郭庆华
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《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
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2018 |
10
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5
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集成电路芯片组合逻辑辨识实验系统的研制 |
孙金玮
王倩文
魏国
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《实验科学与技术》
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2007 |
1
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6
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高密度混合电路封装技术发展趋势及可靠性评价方法研究 |
吉美宁
常明超
贾子健
马保梁
王锦
董浩威
范壮壮
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《集成电路与嵌入式系统》
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2024 |
0 |
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7
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基于MATLAB软件的图像处理技术在电子元器件引脚缺陷检测的应用 |
吴文轩
陈方斯
刘建锋
黄鑫鑫
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《福建轻纺》
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2018 |
1
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8
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QFN芯片表面划痕检测定位方法设计 |
张若楠
沐超
张固
刘小勤
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《大气与环境光学学报》
CAS
CSCD
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2019 |
1
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9
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基于单幅图像的集成电路引脚共面性检测方法 |
吴福培
朱树锴
李昇平
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《光学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
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2020 |
3
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