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题名OEM压阻芯片性能测试及装置
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作者
匡石
冯艳敏
郑东明
徐长伍
张玉喆
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机构
沈阳仪表科学研究院
辽宁大学计算机信息学院
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出处
《仪表技术与传感器》
CSCD
北大核心
2009年第B11期246-248,258,共4页
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文摘
OEM压阻芯片性能测试装置由2个平台构成,即硬件平台和软件平台,具有自动测试芯片性能和控制探针台功能。OEM压阻芯片性能测试可实现4寸(1寸=2.54 cm)芯片上近千个传感器图形的性能测试。每个图形测试项目包括桥路电阻、失调电压、漏流、击穿。对测试项目的合格判定标准实现了开放式管理,可根据不同类别的传感器芯片,设置不同的合格判定标准;在击穿电压测试项目中,对反向偏置电压设置实现了开放式管理,可根据不同的要求,设置不同的反向偏置电压,方便了应用。
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关键词
OEM压阻芯片
桥路电阻
失调电压
漏流
击穿电压
芯片性能测试原理
芯片性能自动测试程序设计
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Keywords
OEM piezoresistive chip
bridge resistance
offset voltage
leakage
breakdown voltage
chip performance testing principle
chip performance auto-testing programming
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分类号
TP212
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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