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霍耳效应测试系统
1
作者
徐向东
马翼桂
《红外与激光工程》
EI
CSCD
1996年第3期26-33,共8页
本文介绍了全自动“霍耳效应测试系统”的基本构成,并对每个分系统作了较为详细地描述。本系统具有测量样品类型全、数量多、测试速度快、测量和控制软件功能全、使用方便等特点。
关键词
霍耳效应
芯片测试仪
自动
测试
设备
红外探测器
下载PDF
职称材料
题名
霍耳效应测试系统
1
作者
徐向东
马翼桂
机构
航天工业总公司第三研究院八三五八所
出处
《红外与激光工程》
EI
CSCD
1996年第3期26-33,共8页
文摘
本文介绍了全自动“霍耳效应测试系统”的基本构成,并对每个分系统作了较为详细地描述。本系统具有测量样品类型全、数量多、测试速度快、测量和控制软件功能全、使用方便等特点。
关键词
霍耳效应
芯片测试仪
自动
测试
设备
红外探测器
Keywords
Hall effect Wafer prober Automatic test equipmentInfrared detector
分类号
TN215.06 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
霍耳效应测试系统
徐向东
马翼桂
《红外与激光工程》
EI
CSCD
1996
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