基于CPLD设计实现逻辑器件的芯片级检测

基于CPLD复杂可编程逻辑器件为核心的硬件电路,对某型计算机中所使用的俄制588系列专用大规模集成电路芯片进行性能和逻辑功能测试。该方法能够准确检测芯片故障,大大提高了修理效率。本文论述了利用CPLD复杂可编程逻辑器件设计的基本电路结构和实现原理,并与传统的故障检测方法进行对比,突显其在芯片级检测中的优势。